Używane Zeiss Mc 550 na sprzedaż (112)

Stan: gotowy do pracy (używany), ZEISS Rondcom 54 urządzenie do pomiaru kształtu, urządzenie do pomiaru powierzchni i konturów Maks. średnica pomiarowa (ED): ok. 300 mm Maks. średnica przedmiotu obrabianego: ok. 580 mm (w zależności od wersji) Maks. obciążenie przedmiotu obrabianego: ok. 30 kg Oś obrotowa (oś C) – Okrągłość radialna: 0,020 + 6 H / 10.000 µm (tolerancja) Bicie osiowe (Axialrunout): 0,020 + 4 R / 10.000 µm Prędkość pomiarowa obrotu: ok. 2 – 10 obr./min Zakres centrowania: ± 2 mm Zakres nachylenia: ± 1° Rozdzielczość (oś obrotu): 0,025° Oś Z (pionowa) – skok: 300 mm (opcjonalnie do 500 mm) Odchyłka prostoliniowości osi Z: 0,12 µm / 100 mm, 0,20 µm / 300 mm Odchyłka równoległości (do osi obrotu): 0,8 µm / 300 mm Oś R (regulacja radialna) – skok: 170 mm Odchyłka prostoliniowości osi R: 0,8 µm / 150 mm Odchyłka równoległości (C do R): 1 µm / 150 mm Bjdpfoxhd E Djx Afbelp Liniał liniowy (w osi R): Tak, w wersji standardowej (dla większej precyzji) Siła pomiarowa (główka pomiarowa): 30 – 100 mN regulowana Zakres pomiarowy głowicy/detektora: ± 1000 µm (regulowany) Rozdzielczość detektora: do 0,001 µm (1 nm) Główka pomiarowa (standard): długość L = 54 mm, kula Ø = 1,6 mm z węglika spiekanego Zasilanie: 100 – 240 V AC, 50/60 Hz Pobór mocy: ok. 600 VA Wymagane ciśnienie powietrza: 0,3 – 0,7 MPa Waga (ok.): ok. 170 kg Mogą Państwo umówić się na oględziny urządzenia. Chętnie zorganizujemy dla Państwa niedrogą spedycję! Otrzymają Państwo fakturę. Dla klientów zagranicznych możliwa faktura netto – warunkiem jest ważny nr VAT UE. Sprzedaż do czasu sprzedaży uwarunkowana dostępnością. Odwiedź nasz sklep i zobacz wszystkie nasze ogłoszenia. Podane nazwy firm i znaki towarowe są własnością ich właścicieli i służą wyłącznie identyfikacji oraz opisowi produktu. Zastrzega się możliwość wystąpienia pomyłek w danych technicznych oraz opisie artykułu.

Stan: niesprawne części zamienne (używany), Wymiary stołu: 1300 x 950 mm Bjdpfjicnk Ejx Afbslp Urządzenie nie jest sprawne! Podwozie na sprzedaż,

Stan: używany, numer maszyny/pojazdu: 7979, Średnica stołu: 400 mm Szczelina 8 T tabeli: 12 mm Wysokość: 175 mm Bljdsb Ez R Uopfx Afbsp Miejsce: 600 x 450 x 175 mm Waga: ok. 100 kg

Stan: używany, Zeiss Typ: EVO 50 XVP Urządzenia z rodziny produktów EVO łączą w sobie wydajną skaningową mikroskopię elektronową z intuicyjną koncepcją obsługi, który jest równie odpowiedni dla doświadczonych, jak i nowicjuszy. Dzięki rozbudowanym opcjom EVO można precyzyjnie dopasować do swoich potrzeb, niezależnie od tego, czy działasz w dziedzinie nauk biologicznych czy materiałoznawstwa lub zajmują się rutynową kontrolą jakości przemysłowej i analizą awarii. Mikroskop elektronowy skaningowy EVO 50 XVP, EDX firmy Oxford Xplore 30 Detektor SDD bez chłodzenia N 05/2021 Wymiary: Dł. x Szer. x Wys. 930 x 1930 x 1600 mm 30 mm 2 rozmiar czujnika / rozdzielczość 129MnKa przy 100 000 cps Z boru - kalifonium Oprogramowanie AZtec lite na Windows 10 Z korektą dryfu Analizator quali-quanti-Analiza Identyfikator punktu mapowanie Bledpfx Aovvtnbofbop skanowanie liniowe w zestawie system tłumienia każdy pojemnik niesie 116 kg/bar Godziny pracy ok. 11 500 godzin Aktualizacja komputera do systemu Windows 10 05/2021 Mikroskop elektronowy skaningowy jest w pełni funkcjonalny. Waga 750 kg + 385 kg +150 kg Stan: używany (Zmiany i błędy w danych technicznych, informacje zastrzeżone!) Przed zakupem prosimy o zapoznanie się z dostępnymi opcjami transportu. Z przyjemnością odpowiemy na wszelkie dalsze pytania telefonicznie.

Stan: bardzo dobry (używany), Dobrze zachowana sonda skanująca dla serii Zeiss UMM Z możliwością wymiany sondy Blsdpfx Aehgigbsfbop

Stan: używany, Funkcjonalność: w pełni sprawny, Sprzedam maszynę pomiarową Zeiss Bljdpfxsw Skzbs Afbsp Przejazdy: x 700, y 700, z 400 mm

Stan: używany, 3-wymiarowa współrzędnościowa maszyna pomiarowa ZEISS NUMEREX – niesprawna Granitowa płyta pomiarowa, stół pomiarowy typ: 3648-18, nr seryjny: X-1019, rok produkcji ok. 1986 Zakres pomiarowy: X = ok. 1250 mm, Y = ok. 900 mm, Z = ok. 400 mm Płyta pomiarowa: długość x szerokość: 1525 x 1435 mm Powierzchnia użytkowa: 1525 x 1100 mm Grubość płyty: 305 mm Szerokość prześwitu w portalu: 1100 mm Uchwyt głowicy pomiarowej: Ø 9,5 mm Przyłącze sprężonego powietrza: 6 bar Zasilanie: 230 V, 50 Hz - Granitowa płyta z stalowymi wkładkami z gwintem wewnętrznym - Oś regulowana z pneumatycznym prowadzeniem ślizgowym dla osi X, Y i Z - Płyta na podstawie z 5 regulowanymi stopami, 3 podkładki do stóp - Brak komputera i oprogramowania (nieobecne, nie wchodzi w zakres dostawy) → niesprawna! Bsdefy U Ewepfx Afbjlp Zapotrzebowanie na miejsce (L x S x W): 1600 x 1850 x 2200 mm Waga maszyny: ok. 2,8 tony Płyta uszkodzona z jednej strony (patrz zdjęcie), poza tym w dobrym stanie

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok produkcji: 2024, Funkcjonalność: w pełni sprawny, okres gwarancji: 12 miesiące, rodzaj prądu wejściowego: Klimatyzacja, masa całkowita: 1 kg, Na sprzedaż oferowany jest ZEISS T-Scan Hawk 2 – wysokoprecyzyjny optyczny skaner 3D do wymagających zadań pomiarowych i kontrolnych. Idealny do precyzyjnych pomiarów 3D w przemyśle i badaniach naukowych, zwłaszcza przy pomiarach komponentów w trudnych warunkach terenowych. Szybkie zastosowanie, łatwa obsługa. Stan: Mało używany, wykorzystywany głównie podczas targów, wystaw i szkoleń Zakres dostawy: · T-Scan Hawk 2 Lite · Niebieski laser klasy 2, bezpieczny dla oczu (IEC 60825-1:2014) · Waga: < 1 kg · Płyta kalibracyjna (skalibrowana DAkkS) · Przewód do czujnika · Walizka transportowa · Kontrola odbiorcza u nas na miejscu z kulami wzorcowymi według ISO 10360 Blodpfx Asw Swpljfbop · Protokół odbioru z potwierdzeniem identyfikowalności · ZEISS INSPECT OPTICAL 3D Free · Sterownik czujnika T-SCAN Hawk 2 ZEISS INSPECT OPTICAL 3D Free · Otwieranie i edycja nowych oraz istniejących projektów · Import chmur punktów, siatek poligonowych · Tworzenie, edycja i przetwarzanie siatek poligonowych · Konstrukcja elementów: geometrie regularne, punkty, przekroje, krzywe, powierzchnie, wymiary · Import plików CAD w formatach: IGES, VDA, STEP, JT Open, STL, PLY · Zastosowanie standardowych metod wyrównania · Porównanie z modelem CAD z wizualizacją odchyleń (mapa kolorów) · Wymiarowanie i analiza kształtu/położenia zgodnie z ISO GPS i ASME Y14.5 · Moduł raportowania Sterownik czujnika T-SCAN Hawk 2 · Konfiguracja i kalibracja · Kalibracja prowadzona przez użytkownika · Rejestracja danych pomiarowych i zarządzanie projektami · Konfigurowalny asystent procesu · Przełączanie trybów pomiarowych i ustawianie czasu ekspozycji bezpośrednio na czujniku · Automatyczna kontrola kalibracji czujnika · Wstępna rejestracja punktów odniesienia ze wsparciem graficznym · Podgląd online pozycji czujnika oraz rejestrowanych danych 3D · Ciągła transformacja do wspólnego układu współrzędnych · Łączenie skanów z góry i z dołu · Usuwanie punktów tła · Automatyczne obliczanie i eksport siatek poligonowych bez nakładek · Eksport danych skanowania (np. format G3D, STL) Informacja: Urządzenie było wykorzystywane wyłącznie do celów demonstracyjnych, szkoleniowych i prezentacyjnych, dlatego widoczne są ślady użytkowania. Na życzenie, za dopłatą, możemy dostarczyć pasujący laptop. Certyfikat odbioru 3D dostępny. Ponadto, przy zakupie T-SCAN Hawk 2 możemy przyjąć starsze systemy GOM w rozliczeniu.

Stan: bardzo dobry (używany), Rok produkcji: 2011, godziny pracy: 1 300 h, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: 201108502924, zakres pomiarowy oś X: 700 mm, zakres pomiarowy osi Y: 1 000 mm, zakres pomiarowy osi Z: 600 mm, rok ostatniego remontu: 2025, Wyposażenie: Tabliczka znamionowa dostępna, Współrzędnościowa maszyna pomiarowa CNC ZEISS CONTURA G2 7/10/6 VAST XXT RDS-CAA Numer seryjny: (201108502924) Zakres pomiarowy: X = 700 mm, Y = 1000 mm, Z = 600 mm Maszyna w stanie bardzo dobrym, Czas pracy ok 1300 roboczogodzin Dystans osi X ok 22 km Dystans osi Y ok 18 km Dystans osi Z ok 16 km Błąd pomiaru długości zgodnie z ISO 10360-2 dla RDS/bezpośredniego VAST XXT: MPE_E = (1,8 + L/300)µm, MPE_P = 1,8µm dla RDS z RST-P/TP 20/200: MPE_E = (2,2 + L/300)µm, MPE_P = 2,0µm Wydajność skanowania zgodnie z normą ISO 10360-4 dla RDS/bezpośredniego VAST XXT: MPE_THP = 3,5 µm w ciągu 68 s Funkcje urządzenia, wyposażenie - Urządzenie pomiarowe portalowe w technologii ceramicznej ze stałym stołem sprzętowym - Wysokość stołu ok. 850 mm - Zintegrowane tłumienie drgań - Sterowanie skanowaniem za pomocą komputera (ISC) w szafie zewnętrznej - Okablowanie przygotowane do technologii wieloczujnikowej RDS i VAST XXT/bezpośrednio Czujniki/akcesoria Jednostka bazowa RDS-CAA przeznaczona do portalowych maszyn pomiarowych Zeiss składająca się z: Przegub RDS-CAA-select z zakresem regulacji +/- 180° i krokiem co 2,5°, co daje 20 736 użytecznych pozycji. RDS-CAA select posiada uchwyt wieloczujnikowy do przełączania dotykowego, skanowania i czujników optycznych. Bedpswlhv Dsfx Afbelp W trybie kalibracji CAA obsługiwane są następujące czujniki: - Czujniki przełączające dotykowe firmy ZEISS/Renishaw (RST-P, TP2, TP6, TP20, TP200). - czujnik skanujący Zeiss VAST XXT TL3 i - czujnik wielopunktowy XDT TL3 (w tym moduł kalibracyjny PS z licencją Calypso CAA).

Stan: bardzo dobry (używany), Zeiss współrzędnościowa maszyna pomiarowa Typ: O-INSPECT 442 Nazwa maszyny: współrzędnościowa maszyna pomiarowa Typ maszyny: O-INSPECT 442 Multisensorowa maszyna pomiarowa ZEISS O-INSPECT umożliwia optymalne pomiary optyczne i dotykowe wszystkich właściwości. Oprogramowanie CALYPSO umożliwia jednoczesne wyświetlanie stanu aktualnego, profilu nominalnego i odchyleń, dzięki czemu wyniki pomiarów są bardzo łatwe do rozpoznania i interpretacji. Dane ogólne: Wymiary: szerokość 1055 mm, długość 1351 mm, wysokość 1770 mm Zakres pomiarowy: X – 400 mm, Y – 400 mm, Z – 200 mm Waga: Maszyna współrzędnościowa (KMG): 800 kg Maksymalna waga przedmiotu: 20 kg Poziom hałasu KMG < 70 dBA Dane elektryczne: Napięcie sieciowe: 100, 110, 120, 125, 230, 240 V~ (±10%) Rodzaj prądu: 1/N/PE Częstotliwość: 50–60 Hz (±3,5%) Maksymalne pobór mocy: 1500 VA Zabezpieczenie: Przy 230 V lub 240 V: C 16 A Przy 100 V lub 125 V: 15 A Prędkości ruchu: Bieg jałowy (funkcja SLOW): 0–5 mm/s Tryb ustawiania: 0–70 mm/s Tryb pomiaru seryjnego: Oś (X,Y): maks. 200 mm/s Bledpfx Afew Titlebjp Oś (Z): maks. 50 mm/s Oś (3D): maks. 287 mm/s Warunki środowiskowe: Aby zapewnić prawidłowe działanie maszyny współrzędnościowej, należy spełnić następujące warunki: Temperatura otoczenia do pracy: +17˚C do +35˚C Wilgotność względna: 40% do 70% (bez kondensacji) Temperatura w pomieszczeniu do pomiarów: 20˚C ±1 K Wysokość n.p.m.: Dla 100–125 V: maks. 3000 m nad poziomem morza Dla 230–240 V: maks. 2000 m nad poziomem morza System głowicy pomiarowej: Głowica CFS Dane typów głowic: Typ CFS 2 mm Zakres pomiarowy 2 mm, odległość robocza 61 mm, średnica plamki pomiarowej 12,5 µm Maksymalny nachylenie powierzchni względem kierunku padania: 90 ±15° Zakres pomiarowy 3 mm, odległość robocza 22,5 mm, średnica plamki 12 µm Maksymalny nachylenie powierzchni względem kierunku padania: 90 ±30° Zakres pomiarowy 10 mm, odległość robocza 70 mm, średnica plamki 24 µm Maksymalny nachylenie powierzchni względem kierunku padania: 90 ±20° Podane wartości nachyleń są wartościami granicznymi i zależą od właściwości odbiciowych powierzchni przedmiotu. Stół obrotowy: Masa i rozdzielczość Masa stołu obrotowego: 7 kg Rozdzielczość: 0,15’’ Dynamika: Maksymalna prędkość kątowa: 50˚/s Prędkość obrotowa: 8,3 min⁻¹ Zakres dostawy: W wersji standardowej współrzędnościowa maszyna pomiarowa O-INSPECT jest dostarczana z następującymi elementami: Współrzędnościowa maszyna pomiarowa (KMG) Sterowanie (zintegrowane) Pulpit obsługowy Komputer z urządzeniami peryferyjnymi Oprogramowanie – CALYPSO 5.2 Dokumentacja System głowicy pomiarowej Dłutko referencyjne Wzorzec pomiarowy Szablon pomiarowy Zakres dostawy: (Zeiss współrzędnościowa maszyna pomiarowa jak na zdjęciu) Stan: używany (Zmiany i pomyłki w danych technicznych są zastrzeżone!) Prosimy o wcześniejsze zapytanie o możliwości transportu. Dodatkowe pytania chętnie odpowiemy telefonicznie.

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok produkcji: 1996, Zakres pomiarowy X/Y/Z: 700mm/700mm/500mm, średnica kulki stykowej: 7,9942mm, sterowanie: Zeiss C90, system pomiarowy: PH6/TP6, maks. błąd pomiarowy: 3,6+L/250µm, maks. błąd kątowy: 0,22°, waga: ok. 1500kg. Dostępna dokumentacja. Możliwa wizytacja na miejscu. Blodpjwzldwofx Afbop

Stan: używany, Rok produkcji: 2001, godziny pracy: 52 400 h, numer maszyny/pojazdu: 115576, zakres pomiarowy oś X: 700 mm, zakres pomiarowy osi Y: 700 mm, zakres pomiarowy osi Z: 580 mm, rok ostatniego remontu: 2024, Wyposażenie: Tabliczka znamionowa dostępna, dokumentacja / instrukcja obsługi, ZEISS ECLIPSE CNC – precyzja w technice pomiarów 3D Bljdpfx Afsxbr Aksbop Natychmiast dostępna współrzędnościowa maszyna pomiarowa firmy ZEISS, wyposażona w oprogramowanie CALYPSO 5.6.043 oraz system sond RDS #2195 / RST-P. Idealna do precyzyjnej kontroli jakości w produkcji i laboratorium – solidna, niezawodna i gotowa do użycia. Dane techniczne i wyposażenie: • Producent: ZEISS • Model: ECLIPSE CNC • Rok produkcji: 2001 • Sterowanie: CNC • Oprogramowanie: CALYPSO 5.6.043 • System sond: Uchwyt sondy / Sonda: RDS #2195 / RST-P • Stan: zadbany, w pełni sprawny Zalety: • Precyzyjna technika pomiarów 3D do kontroli seryjnej i pojedynczych elementów • Maszyna sterowana CNC, solidna konstrukcja do zastosowań przemysłowych • Sprawdzona technologia ZEISS z nowoczesnym oprogramowaniem

Stan: bardzo dobry (używany), Rok produkcji: 1966, Mikroskop pomiarowy Zeiss typ WMM 150 /75 zbudowany w 1966 r. Służy do pomiaru wszelkiego rodzaju przedmiotów obrabianych, w szczególności sprawdzianów, form, sprawdzianów gwintów, szablonów itp. kątów prostych x + y i współrzędnych biegunowych x lub y Jego zakres testowy wynosi 150 x 75 mm wraz z instrukcją obsługi + akcesoriami. Bodot T Uavspfx Afbslp

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok produkcji: 2024, Funkcjonalność: w pełni sprawny, okres gwarancji: 12 miesiące, całkowita wysokość: 83 mm, rodzaj prądu wejściowego: Klimatyzacja, całkowita szerokość: 340 mm, całkowita długość: 240 mm, masa całkowita: 4 kg, Wyposażenie: dokumentacja / instrukcja obsługi, Na sprzedaż oferowany jest ZEISS ATOS Q 8M – wysokoprecyzyjny optyczny skaner 3D przeznaczony do wymagających zadań pomiarowych i kontrolnych. Idealny do precyzyjnych pomiarów 3D w przemyśle i badaniach naukowych. Szybki montaż, prosta obsługa. Stan: Używany sporadycznie, głównie podczas targów, wystaw i szkoleń. Zakres dostawy: - Skaner ZEISS ATOS Q 8M z MV500 - Oryginalne akcesoria zgodnie ze standardowym wyposażeniem - Zasilacze i kable - Kabel światłowodowy o długości 10 m - Statyw trójnożny - Walizka transportowa - Laptop w zestawie - System operacyjny Windows 10 - Oprogramowanie ZEISS INSPECT OPTICAL 3D ZEISS INSPECT OPTICAL 3D Free: - Otwieranie i edycja nowych oraz istniejących projektów - Import chmur punktów, siatek poligonowych - Tworzenie, edytowanie oraz przetwarzanie siatek poligonowych - Konstrukcja elementów: geometrie regularne, punkty, przekroje, krzywe, powierzchnie, pomiary - Import CAD w standardowych formatach: IGES, VDA, STEP, JT Open, STL, PLY - Zastosowanie standardowych metod wyrównywania - Porównanie z modelem CAD z kolorową wizualizacją odchyleń - Wymiary i analizy kształtu/położenia zgodnie z ISO GPS oraz ASME Y14.5 - Moduł raportowy Blodow Nx D Eopfx Afbsp Informacja: Urządzenie było używane wyłącznie do celów demonstracyjnych, szkoleniowych oraz pokazowych, dlatego widoczne są ślady użytkowania. Dostępny jest certyfikat odbioru 3D. Ponadto, przy zakupie ATOS Q przyjmujemy w rozliczeniu również starsze systemy GOM.

Stan: dobry (używany), Analogowy z elektrycznym skanerem. - Łącznie z kilkoma opcjami. Długość powierzchni: ok. 990 mm Bedpfxody Eyne Afbjlp Max wysokość optyki szklany stół (zdejmowany) ok. 200 mm (Tylko urządzenie bez stołu) wymiary: L / B / H 110 x 115 x 80 cm Waga: ok. 400 kg

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok produkcji: 2024, Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss XB 350 Wyposażenie i akcesoria: • bez kolumny FIB • oprogramowanie SmartSEM oraz SmartFIB • GIS z prekursorem Pt • zintegrowany plasma cleaner • EDX Oxford Xplore 30 (wraz z interfejsem i oprogramowaniem) • automatyczna śluza na próbki do 200 mm • przepust elektryczny (2 x 15 kanałów) • chłodziarka obiegowa • buforowy zbiornik próżniowy Quiet Mode • ... a także stół, monitor, konsole sterujące (własnościowa klawiatura Zeiss + joystick) oraz różne uchwyty na próbki Bljdpfxew Rdvve Afbsp Uruchomienie: sierpień 2024 Lokalizacja: Moguncja Dostępność: do uzgodnienia, dostępny w krótkim terminie. Urządzenie nadal eksploatowane – możliwość obejrzenia i demonstracji na miejscu. Urządzenie jest w pełni sprawne, nie posiada żadnych wad ani uszkodzeń. Dalsze informacje na zapytanie!

Rok produkcji: 1986, Stan: gotowy do pracy (używany), Dostępna jest stara precyzyjna szlifierka obwodowa Carl Zeiss. W zestawie liczne akcesoria i narzędzia. Możliwa jest wizja lokalna. Bljdpfxow Ni Ius Afbep

Stan: bardzo dobry (używany), Stół obrotowy (prawdopodobnie Zeiss) Ø 630 mm Remont w 2013 r. dla sterowania Pantec Bsdpfx Afsm Exa Ejbolp Nowy enkoder i głowica odczytowa firmy Renishaw

Rok produkcji: 1995, Stan: używany, Ścieżka x 9200 mm ścieżka y 1600 mm ścieżka z 2400 mm Średnica próbki testowej mm Zakres roboczy mm Odległość środkowa mm Jednostka sterująca ZEISS C 99 Całkowite zapotrzebowanie mocy kW Masa maszyny ok. 30 ton Wymagana przestrzeń ok. 10 x 3,6 m Z E I S S - S T I E F E L M A Y E R Dwustronna jezdna maszyna pomiarowa 3D CNC Typ SMM Duplex / Eagle Eye Zbudowana w 1995 r., ale kilkakrotnie modernizowana Bledpfx Afot Hwwkobjp Zakres roboczy stanowisk pomiarowych: Oś X ok. (pozioma) 9 200 mm Oś Y ok. (poprzeczna) 1 600 mm/ 3 200 mm Oś Z ok. (pionowa) 2 400 mm Rozmiar płyty pomiarowej (podzielonej na 4 części) 10 000 x 3 500 mm Wymiary zewnętrzne płyty pomiarowej wraz z szynami prowadzącymi 10 000 x 3 650 mm Grubość płyty pomiarowej ok. 450 mm Wysokość płyty pomiarowej nad podłogą 650 mm Maks. Prędkość przesuwu ok. 150 mm/sek. Masa całkowita ok. 30 000 kg Wyposażenie specjalne / akcesoria : - Montaż z lewej i prawej strony Stojak pomiarowy System C / SMM ruchomy bocznie na płycie pomiarowej, o przekroju kolumny do regulacji pionowej do regulacji pionowej 160 x 160 mm i przekroju ramienia wspornikowego do regulacji poprzecznej do regulacji poprzecznej ok. 80 m x 80 mm. - Sterowanie maszyną/CNC typu ZEISS C 99 jedna jednostka na stanowisko pomiarowe - zamontowana głowica pomiarowa typu RST-P z przegubem obrotowo-uchylnym DSE oraz z korekcją CAA i sondą referencyjną, zabezpieczenie antykolizyjne - EAGLE EYE Navigator do pomiarów optycznych, szczególnie na pojazdach karoseriach samochodowych i innych części formowanych, zapewnia dużą oszczędność czasu, został zmodernizowany w 2007 r. zmodernizowany w 2007 r. - Wymienna stacja sond pomiarowych dla 8 sond pomiarowych z przodu płyty przykręcona do przedniej części płyty. - Płyta pomiarowa wykonana ze specjalnego żeliwa podzielona na 4 płyty = 4 x 5,000 x 1,750 lub mm i z nóżkami poziomującymi o regulowanej wysokości o wysokości ok. 250 mm w wystarczającej liczbie. - Rowki mocujące w kierunku wzdłużnym y+- 500 mm i różne otwory montażowe z gwintami w określonych odległościach. z gwintami w określonych odległościach. Y=+-300 / 700 / 1000 mm Maszyna jest jednak bez odpowiedniego OPROGRAMOWANIA! (pozostaje w fabryce) bez paneli sterowania i bez wzorców pomiarowych (kulek) Stan: dobry do bardzo dobrego - idealny do pomiaru dużych części karoserii Dostawa : z magazynu - jak widać (bez oprogramowania i paneli sterowania) Płatność : wyłącznie netto - po otrzymaniu faktury Prosimy o złożenie zamówienia.

Stan: używany, Różne ZEISS Bjdpoxbt Hwjfx Afbjlp

Stan: bardzo dobry (używany), Zeiss Typ: EVO 50 Urządzenia z rodziny produktów EVO łączą w sobie wydajną skaningową mikroskopię elektronową z intuicyjną koncepcją obsługi, który jest równie odpowiedni dla doświadczonych, jak i nowicjuszy. Dzięki rozbudowanym opcjom EVO można precyzyjnie dopasować do swoich potrzeb, niezależnie od tego, czy działasz w dziedzinie nauk biologicznych czy materiałoznawstwa lub zajmują się rutynową kontrolą jakości przemysłowej i analizą awarii. Mikroskop elektronowy skaningowy EVO 50, EDS firmy Oxford Ultim Max 100, detektor SDD 09/2019 Wymiary: Dł. x Szer. x Wys. 930 x 1930 x 1600 mm Rozmiar czujnika 100 mm² / 130 000 cps Waga: ok. 750 kg Stan: używany (Zmiany i błędy w danych technicznych, informacje zastrzeżone!) Przed zakupem prosimy o zapoznanie się z dostępnymi opcjami transportu. Blodpfx Afsvxubhsbsp Z przyjemnością odpowiemy na wszelkie dalsze pytania telefonicznie.

Stan: używany, Sterowanie CNC, panel sterowania, centrum obróbcze, jednostka sterująca współrzędnościowej maszyny pomiarowej -Producent: Carl Zeiss, Panel sterowania Jednostka sterująca Sterownik wyświetlacza Maszyna pomiarowa 3D -Typ: BP26, Standard -Wymiary: 335/165/H155 mm Bodjt Sbamspfx Afbelp -Waga: 1,1 kg

Rok produkcji: 1990, Stan: gotowy do pracy (używany), Dostępna jest precyzyjna szlifierka do szkła Carl Zeiss do wstępnego szlifowania detali optycznych. Prędkość wrzeciona detalu: 125 obr./min, prędkość wrzeciona narzędzia: 7000 obr./min, posuw: 6 mm/min, dokładność bicia promieniowego i czołowego: +/-0,005 mm, zakres wychylenia: 50°, dopuszczalna powtarzalność: +/-0,01 mm, zmierzona powtarzalność (1990): +/-0,005 mm. Dokumentacja dostępna. Możliwość obejrzenia na miejscu. Bljdpfxsw Ni Ize Afbsp

Stan: dobry (używany), Rok produkcji: 1999, numer maszyny/pojazdu: 106705, zakres pomiarowy oś X: 1 200 mm, zakres pomiarowy osi Y: 1 800 mm, zakres pomiarowy osi Z: 1 000 mm, przyłącze sprężonego powietrza: 6 belka, Współrzędnościowa maszyna pomiarowa z drugiej ręki Zakres pomiarowy (X/Y/Z): 1200 x 1800 x 1000 mm Oprogramowanie pomiarowe: Zeiss Calypso 5.8 (w tym krzywa opcji oprogramowania) Sonda dotykowa: Zeiss VAST Gold Sterowanie: Zeiss C99 Dokładność 3,7 + (L / 250) Blodpfx Afovgny Tobep Dostawa, kalibracja i szkolenie mogą być oferowane jako opcja.

Stan: bardzo dobry (używany), ZEISS Typ: DSM 962 Cyfrowy skaningowy mikroskop elektronowy DSM 962 jest wyposażony w zintegrowaną pamięć obrazów o pojemności 4 MB, dysk twardy o pojemności 40 MB do wewnętrznego przechowywania obrazów oraz napędy do zewnętrznego przechowywania danych i obrazów. Dysk twardy do wewnętrznego przechowywania obrazów oraz napędy do zewnętrznego przechowywania danych i obrazów. Umożliwia to szybkie i łatwe uzyskanie wglądu w skład i morfologię powierzchni. morfologii powierzchni próbek w zakresie submikrometrowym. Z Zakres powiększeń od 5x do 300 000x umożliwia badanie zarówno makrostruktur, jak i mikrostruktur. jak i mikrostruktury. Zakres zastosowań można znacznie rozszerzyć poprzez dodanie specjalnych akcesoriów, umożliwiających na przykład badania analityczne w mikroobszarach powierzchni. Urządzenie może być obsługiwane zarówno za pomocą konwencjonalnych elementów przełączających, jak i za pomocą klawiatury lub myszy (dodatek). Klawiatura lub mysz (dodatek). Optyka elektronowa i kontrola próżni są konwencjonalne. Funkcje Funkcje pamięci obrazu są obsługiwane za pomocą klawiatury lub myszy (dodatek). Pośrodku panelu przedniego znajduje się oddzielny ekran informacyjny do wyświetlania menu. oddzielny ekran informacyjny do wyświetlania menu. Niniejsza instrukcja obsługi ma na celu pomóc użytkownikowi w osiągnięciu jak najlepszych wyników pracy z urządzeniem. wyników pracy urządzenia. Objaśnienia zostały przedstawione w możliwie najprostszy sposób, aby nawet mniej doświadczony użytkownik mógł zapoznać się z niezbędnymi narzędziami. mniej doświadczonym użytkownikom niezbędne narzędzia. Zakres powiększenia: 20x do 300 000x przy odległości roboczej 7 mm Etapy w sekwencji 1-2-3-5-10 Minimalne powiększenie: 5x przy odległości roboczej 50 mm Bledpfxjfcwwne Afbjp Rozdzielczość: 4 nm - gwarantowana z katodą wolframową przy 30 kV, odległość robocza 6 mm, próbka bez końcówki 25 nm - gwarantowane z katodą wolframową przy napięciu 1 kV, odległość robocza 6 mm, próbka bez końcówki 3,5 nm - gwarantowane z optymalną katodą LaB6 przy napięciu 30 kV, odległość robocza 6 mm, próbka wyciągnięta. Zakres dostawy: (DSM 962 z akcesoriami, jak pokazano) Stan: używany (Z zastrzeżeniem zmian i błędów w danych technicznych i specyfikacjach) Przed zakupem należy zapytać o opcje transportu. Chętnie odpowiemy na wszelkie dalsze pytania przez telefon.