Używane Fischerscope na sprzedaż (3)

Stan: dobry (używany), Helmut Fischer Fischerscope Fluorescencja rentgenowska Pomiar grubości powłoki XDL XDL-B XYmZ Dedew Hbimspfx Abxocn

Stan: bardzo dobry (używany), HELMUT FISCHER Urządzenie do pomiaru fluorescencji rentgenowskiej / urządzenie do pomiaru grubości warstw FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 Profesjonalny system pomiarowy do analizy fluorescencji rentgenowskiej do pomiaru grubości warstw i analizy materiałów Na sprzedaż używane urządzenie do pomiaru fluorescencji rentgenowskiej producenta Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Niemcy. FISCHERSCOPE X-RAY nadaje się do bezkontaktowego pomiaru grubości warstw i analizy materiałów metodą fluorescencji rentgenowskiej (RFA/XRF). System jest przeznaczony do pomiarów warstw funkcjonalnych, warstw ochronnych przed korozją oraz różnych powłok metalicznych i znajduje zastosowanie w kontroli jakości, laboratoriach, badaniach i produkcji. Dane techniczne: Producent: Helmut Fischer GmbH + Co. KG Model: FISCHERSCOPE X-RAY Typ: XDL-XYZpT8 Numer seryjny: SN010002436 Wyprodukowano w Niemczech Posiada oznaczenie CE System pomiarowy: Urządzenie do pomiaru fluorescencji rentgenowskiej (RFA / XRF) Do bezkontaktowego pomiaru grubości warstw Nadaje się do warstw funkcjonalnych i warstw ochronnych przed korozją Duża komora pomiarowa z szczeliną w kształcie litery C Standardowa lampa rentgenowska Proporcjonalny licznik Stała przysłona i stały filtr Skok DCM 0–80 mm Dane elektryczne: Napięcie zasilania: 230 V AC Częstotliwość: 50–60 Hz Pobór mocy: 120 W Złącza: Złącze sieciowe Interfejs szeregowy (Sub-D) Dodatkowe złącza zgodnie z ilustracjami Wyposażenie: Urządzenie pomiarowe Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY Komora pomiarowa z osłoną Oprogramowanie Instrukcja obsługi Dodatkowe akcesoria zgodnie z ilustracjami Obszary zastosowania: Pomiar grubości warstw Analiza materiałów Analiza fluorescencji rentgenowskiej (XRF) Kontrola jakości Galwanotechnika Technologia powłok Badanie materiałów Laboratorium Badania i rozwój Zakres dostawy: Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 Oprogramowanie Instrukcja obsługi Zakres dostawy zgodnie z ilustracjami Stan: Używany Urządzenie pochodzi z likwidacji magazynu. Stan wizualny zgodnie z ilustracjami. Ważna uwaga: Urządzenie nie zostało przez nas przetestowane i jest sprzedawane wyraźnie bez gwarancji i bez sprawdzenia. Stół widoczny na zdjęciach oraz inne przedmioty, które nie zostały wyraźnie wymienione, nie stanowią części sprzedaży. Ze względu na rozmiar i wagę, wysyłka możliwa za pośrednictwem firmy spedycyjnej. Zmiany, błędy i sprzedaż w międzyczasie zastrzeżone. Dcjdpfx Ajz Egi Rjbxjn W przypadku dalszych pytań prosimy o kontakt telefoniczny.

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2001, Funkcjonalność: ograniczona funkcjonalność, Sprzedam system mikro-/nano-twardościomierza Fischerscope H100C XYp firmy Helmut Fischer (rok produkcji 2001). Urządzenie było ostatnio używane w laboratorium, obecnie jednak nie jest w pełni sprawne i jest sprzedawane wyraźnie jako uszkodzone / dla majsterkowiczów / na części zamienne. Znane problemy: - Ruch stołu nie działa prawidłowo (stół znajduje się pod głowicą pomiarową, a nie pod mikroskopem – obecnie nie jest możliwy precyzyjny pomiar). Prawdopodobnie problem elektroniczny. - Stół pomiarowy samoczynnie przesuwa się w lewo – możliwa usterka joysticka. - Zmiana penetratora nie działa prawidłowo (sonda nie dojeżdża całkowicie do ogranicznika). Urządzenie nadaje się szczególnie do: • Naprawy przez osoby z wiedzą elektroniczną • Pozyskiwania części zamiennych • Celów badawczych / dla majsterkowiczów Dcedpfxoyu Nabe Abxsn Stan wizualny dobry jak na wiek.