Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDL-XYZpT8 rentgenofluorescencyjny miernik grubości powłokHelmut Fischer
Fischerscope XDL-XYZpT8
Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDL-XYZpT8 rentgenofluorescencyjny miernik grubości powłok
Helmut Fischer
Fischerscope XDL-XYZpT8
SK plus VAT
3 500 €
stan
używany
Lokalizacja
Borken 

Dane podstawowe
- Opis/nazwa maszyny:
- Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDL-XYZpT8 rentgenofluorescencyjny miernik grubości powłok
- Producent:
- Helmut Fischer
- Model:
- Fischerscope XDL-XYZpT8
- stan:
- używany
Cena i lokalizacja
SK plus VAT
3 500 €
- Lokalizacja:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Zadzwoń
Szczegóły oferty
- Identyfikator ogłoszenia:
- A22811900
- Numer referencyjny:
- 25371
- Aktualizacja:
- ostatnio dnia 15.10.2026
Opis
HELMUT FISCHER
Urządzenie do pomiaru fluorescencji rentgenowskiej / Miernik grubości warstw
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Profesjonalny system pomiarowy fluorescencji rentgenowskiej
do analizy grubości warstw i składu materiałów
Na sprzedaż używane urządzenie do pomiaru fluorescencji rentgenowskiej
producenta Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Niemcy.
FISCHERSCOPE X-RAY nadaje się do bezinwazyjnego pomiaru grubości warstw
oraz analizy materiałów metodą fluorescencji rentgenowskiej (RFA/XRF).
System jest przeznaczony do pomiaru warstw funkcyjnych, warstw ochronnych
przed korozją oraz różnych powłok metalicznych i znajduje zastosowanie
w kontroli jakości, laboratoriach, badaniach i produkcji.
Dane techniczne:
Producent: Helmut Fischer GmbH + Co. KG
Model: FISCHERSCOPE X-RAY
Typ: XDL-XYZpT8
Numer seryjny: SN010002436
Wyprodukowano w Niemczech
Posiada oznaczenie CE
System pomiarowy:
Urządzenie do pomiaru fluorescencji rentgenowskiej (RFA/XRF)
Do bezinwazyjnego pomiaru grubości warstw
Nadaje się do warstw funkcyjnych i warstw ochronnych przed korozją
Duża komora pomiarowa z szczeliną C
Standardowa lampa rentgenowska
Proporcjonalny licznik
Stała przysłona i filtr
Skok DCM 0–80 mm
Dane elektryczne:
Napięcie zasilania: 230 V AC
Częstotliwość: 50–60 Hz
Pobór mocy: 120 W
Złącza:
Złącze sieciowe
Interfejs szeregowy (Sub-D)
Dodatkowe złącza zgodnie z ilustracjami
Wyposażenie:
Urządzenie pomiarowe Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY
Komora pomiarowa z osłoną
Oprogramowanie
Instrukcja obsługi
Dodatkowe akcesoria zgodnie z ilustracjami
Obszary zastosowania:
Pomiar grubości warstw
Analiza materiałów
Analiza fluorescencyjna rentgenowska (XRF)
Kontrola jakości
Galwanizacja
Technologie powierzchniowe
Badania materiałowe
Laboratorium
Badania i rozwój
Zakres dostawy:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Oprogramowanie
Instrukcja obsługi
Zakres dostawy zgodnie z ilustracjami
Stan:
Używany
Urządzenie pochodzi z likwidacji magazynu.
Stan wizualny zgodnie z ilustracjami.
Isdoz Egi Ropfx Afvoih
Ważna uwaga:
Urządzenie nie zostało przez nas przetestowane i jest sprzedawane
wyłącznie w stanie, w jakim się znajduje, bez gwarancji.
Przedmioty przedstawione na zdjęciach, takie jak stół lub inne,
które nie zostały wyraźnie wymienione, nie są częścią oferty sprzedaży.
Ze względu na rozmiar i wagę wysyłka możliwa za pośrednictwem firmy spedycyjnej.
Zmiany, błędy i sprzedaż w międzyczasie zastrzeżone.
W razie dodatkowych pytań prosimy o kontakt telefoniczny.
Ogłoszenie zostało przetłumaczone automatycznie. Błędy w tłumaczeniu są możliwe.
Urządzenie do pomiaru fluorescencji rentgenowskiej / Miernik grubości warstw
FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Profesjonalny system pomiarowy fluorescencji rentgenowskiej
do analizy grubości warstw i składu materiałów
Na sprzedaż używane urządzenie do pomiaru fluorescencji rentgenowskiej
producenta Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Niemcy.
FISCHERSCOPE X-RAY nadaje się do bezinwazyjnego pomiaru grubości warstw
oraz analizy materiałów metodą fluorescencji rentgenowskiej (RFA/XRF).
System jest przeznaczony do pomiaru warstw funkcyjnych, warstw ochronnych
przed korozją oraz różnych powłok metalicznych i znajduje zastosowanie
w kontroli jakości, laboratoriach, badaniach i produkcji.
Dane techniczne:
Producent: Helmut Fischer GmbH + Co. KG
Model: FISCHERSCOPE X-RAY
Typ: XDL-XYZpT8
Numer seryjny: SN010002436
Wyprodukowano w Niemczech
Posiada oznaczenie CE
System pomiarowy:
Urządzenie do pomiaru fluorescencji rentgenowskiej (RFA/XRF)
Do bezinwazyjnego pomiaru grubości warstw
Nadaje się do warstw funkcyjnych i warstw ochronnych przed korozją
Duża komora pomiarowa z szczeliną C
Standardowa lampa rentgenowska
Proporcjonalny licznik
Stała przysłona i filtr
Skok DCM 0–80 mm
Dane elektryczne:
Napięcie zasilania: 230 V AC
Częstotliwość: 50–60 Hz
Pobór mocy: 120 W
Złącza:
Złącze sieciowe
Interfejs szeregowy (Sub-D)
Dodatkowe złącza zgodnie z ilustracjami
Wyposażenie:
Urządzenie pomiarowe Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY
Komora pomiarowa z osłoną
Oprogramowanie
Instrukcja obsługi
Dodatkowe akcesoria zgodnie z ilustracjami
Obszary zastosowania:
Pomiar grubości warstw
Analiza materiałów
Analiza fluorescencyjna rentgenowska (XRF)
Kontrola jakości
Galwanizacja
Technologie powierzchniowe
Badania materiałowe
Laboratorium
Badania i rozwój
Zakres dostawy:
Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8
Oprogramowanie
Instrukcja obsługi
Zakres dostawy zgodnie z ilustracjami
Stan:
Używany
Urządzenie pochodzi z likwidacji magazynu.
Stan wizualny zgodnie z ilustracjami.
Isdoz Egi Ropfx Afvoih
Ważna uwaga:
Urządzenie nie zostało przez nas przetestowane i jest sprzedawane
wyłącznie w stanie, w jakim się znajduje, bez gwarancji.
Przedmioty przedstawione na zdjęciach, takie jak stół lub inne,
które nie zostały wyraźnie wymienione, nie są częścią oferty sprzedaży.
Ze względu na rozmiar i wagę wysyłka możliwa za pośrednictwem firmy spedycyjnej.
Zmiany, błędy i sprzedaż w międzyczasie zastrzeżone.
W razie dodatkowych pytań prosimy o kontakt telefoniczny.
Ogłoszenie zostało przetłumaczone automatycznie. Błędy w tłumaczeniu są możliwe.
Wyślij zapytanie
telefon & Fax
+49 2861 ... ogłoszenia
Te ogłoszenia mogą Cię również zainteresować.
Udane:
Twoja wiadomość została wysłana.
Ogłoszenia
Borken
847 km
Płyta pomiarowa
Helmut Fischer FischerscopeXDL-B XYmZ
Helmut Fischer FischerscopeXDL-B XYmZ
Twoje ogłoszenie zostało pomyślnie usunięte
Wystąpił błąd



















