Używane Mahr Mikroskop Pomiarowy na sprzedaż (4 113)

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2012, Dostępna jest współrzędnościowa maszyna pomiarowa Mitutoyo, generalnie wyremontowana w 2023 roku. Zakres pomiarowy X/Y/Z: 705 mm/1005 mm/605 mm, maks. wysokość przedmiotu: 800 mm, wymiary stołu X/Y: 880 mm/1720 mm, maks. obciążenie stołu: 1000 kg, rozdzielczość: 0,1 µm, prędkość przejazdu: 520 mm/s, prędkość pomiaru: 8 mm/s. Wymiary maszyny X/Y/Z: ok. 1500 mm/2000 mm/2750 mm, masa: ok. 2000 kg. Sterowanie: GEOPAK i CAT 1000 PS. W zestawie różne drzewka czujników. Dostępna dokumentacja. Możliwość oględzin na miejscu. Bwodpfx Asx Ih A Nefpsu

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2023, Dostępna jest bramowa współrzędnościowa maszyna pomiarowa CNC Mitutoyo. Przejazdy osi X/Y/Z: 1200mm/2000mm/1000mm, objętość pomiarowa: 2,4m³, maks. masa detalu: 2500kg, maks. wysokość detalu: 1000mm, głowica pomiarowa: Renishaw, liczba pozycji głowicy: 20, dokładność pomiaru: 2,3+/-0,3/100µm, maks. prędkość przejazdu: 693mm/s. Wymiary maszyny X/Y/Z: ok. 3400mm/2200mm/3600mm, waga: ok. 6150kg, sterowanie: Mcosmos-3 V4.3. Dostępna dokumentacja. Możliwość oględzin na miejscu. Bwodpszhnrbjfx Afpsu

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2012, Wysokość stołu: 850 mm, odchylenie sondowania MPEp: 3,5 μm, błąd pomiaru długości MPEe: 3,0+L/250 μm, wysokość maszyny: 1845 mm, podłączenie elektryczne: cztery uziemione gniazda Schuko 220 V z zabezpieczeniem 16A, pobór mocy: maks. 700 VA, przestrzenny gradient temperatury: maks. 1°C/m, regularnie sprawdzana, z komputerem. Możliwa inspekcja na miejscu. Bwodpfjy H I Ensx Afpsu

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 1986, Oferowana jest 3D maszyna współrzędnościowa. Obszar roboczy X/Y/Z: 850mm/1200mm/600mm, uchwyt sondy pomiarowej: Renishaw PH10M, powierzchnia stołu: płyta granitowa, rozdzielczość: 0,1µm, zasilanie powietrzem: 5 bar, sterowanie: Zeiss CMM Controller. Wyposażenie: pulpit sterowniczy z joystickiem, magazyn wymiany sond SCR200, kula kalibracyjna, bogaty zestaw akcesoriów do sond. Waga: ok. 2400kg, wymiary całkowite X/Y/Z: ok. 2100mm/1900mm/2350mm. Oględziny możliwe po wcześniejszym uzgodnieniu. Bwodpfx Asy T N H Tofpou

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2008, Dostępna jest sterowana numerycznie (CNC) trójwymiarowa, wielosensorowa maszyna do pomiaru współrzędności firmy Dr. Schneider. Konstrukcja: portalowa, wymiary obszaru pomiarowego X/Y/Z: 400 mm/400 mm/300 mm, rozdzielczość osi: 0,0001 mm, maksymalna prędkość przemieszczania: 100 mm/s, maksymalne przyspieszenie: 4 m/s², optyczna odchyłka pomiaru długości: 2 + L/300 µm, przestrzenna odchyłka pomiaru długości: 2,8 + L/300 µm, głowica pomiarowa: Renishaw PH10M, czujnik pomiarowy: Renishaw TP200, interfejs czujnika: Renishaw PI200. Wymiary maszyny X/Y/Z: ok. 1200 mm/1200 mm/2100 mm, waga: ok. 600 kg. Dostępna jest dokumentacja. Możliwa jest inspekcja maszyny na miejscu. Bwjdpfx Afezli Tuopsu

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2015, Oferujemy przenośny system pomiarowy 3D firmy FARO. Ramię pomiarowe: FARO Edge, rok produkcji: 2015, wersja: 3.9. Skaner laserowy: FARO LLP HD, rok produkcji: 2015, wersja: 3.2. Specyfikacja pojedynczego punktu artykulacji: 0,0290 mm, specyfikacja średnicy efektywnej: 0,0145 mm, specyfikacja objętościowa: 0,0410 mm. Zmierzona maksymalna odchyłka pojedynczego punktu: 0,0254 mm, zmierzona maksymalna odchyłka średnicy efektywnej: 0,0020 mm, zmierzona maksymalna odchyłka objętościowa: 0,0217 mm. Data kalibracji ramienia pomiarowego: 17.04.2024. Data kalibracji skanera laserowego: 12.04.2024. W zestawie: głowica laserowa FARO LLP HD, walizka transportowa, statyw i akcesoria. Dostępna dokumentacja. Możliwość oględzin w siedzibie firmy. Bwsdpfx Ajztduiofpju

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2010, Długość pomiarowa: 500mm, średnica pomiarowa: 160mm, max. waga przedmiotu obrabianego: 15 kg, osie: 4, typ pomiaru: sonda optyczna/laserowa/światłowodowa. Zawiera uchwyt hydrauliczny i wkładkę światłowodową do sondy światłowodowej Werth. Dostępna dokumentacja. Możliwa jest wizja na miejscu. Bodpjwligqefx Afpjwu

Stan: bardzo dobry (używany), Typ: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (PC-SEM) Nowoczesny, wysokorozdzielczy, cyfrowy skaningowy mikroskop elektronowy z nowo opracowaną optyką elektronową i intuicyjnym graficznym interfejsem użytkownika (GUI) w środowisku Microsoft Windows XP Professional. Bodpfx Afjzd Ufaopswu Wyposażenie obejmuje następujące cechy: Zakres powiększenia: 5 X - 300 000 X Napięcie przyspieszające: 0,3 - 30 kV Katoda włóknowa z wolframu (opcjonalnie katoda LaB6) Duży, w pełni zmotoryzowany stolik próbki z mimośrodowym pochylaniem, w tym graficzna nawigacja po uchwycie próbki Prosta nawigacja próbki dzięki funkcji Click-Center-Zoom Sterowanie polem widzenia przez dwóch nawigatorów Nawigacja koordynatów względnych Zapisywanie i powrót do pozycji próbki Regulowany wybór obszaru badania na stoliku Korekcja pola widzenia podczas obrotu przez sterowaną komputerowo mimośrodową rotację Korekcja pola widzenia podczas pochylania przez sterowaną komputerowo mimośrodową inklinację Obliczanie możliwego kąta pochylenia w zależności od geometrii próbki Automatyczna regulacja ostrości przy zmianie pozycji próbki w osi Z Inteligentne krańcówki bezpieczeństwa dla zmotoryzowanych osi Zakres ruchu stolika: x=125mm y=100mm z=5 do 80 mm (płynnie regulowane) T = -10°C do +90°C R= 360° (bez ograniczenia) Detektor elektronów wtórnych do pracy w wysokiej próżni Nowatorski, superstożkowy obiektyw gwarantuje najwyższą rozdzielczość obrazu nawet przy dużych kątach nachylenia Gwarantowana rozdzielczość obrazu SE: 3 nm przy 30 kV oraz 15 nm przy 1 kV Jednoczesne wyświetlanie obrazu na żywo z kilku detektorów Prosta nawigacja próbki dzięki Click-Center-Zoom Zaawansowane funkcje pomiaru obrazu Funkcja filmowania do rejestracji procesów dynamicznych Wszechstronna komora próbki z wieloma możliwymi rozbudowami: wolne kołnierze np. dla EDX, WDX, EBSD, katodoluminescencji itp. Niskoobsługowy, cichy system pomp: pompa przedwstępna, bezwibracyjna pompa dyfuzyjna wysokiej wydajności oraz elektromagnetyczne sterowanie zaworami Rozbudowane zabezpieczenia przed błędną obsługą i awarią mediów zewnętrznych Ergonomiczny stół systemowy z regulacją wysokości Zestaw startowy REM: 2 uchwyty do próbek, zestaw narzędzi oraz 6 zapasowych katod Wyposażenie dodatkowe SEM: Turbomolekularna pompa zamiast standardowej pompy dyfuzyjnej Podczas korzystania z turbomolekularnej pompy nie jest wymagane chłodzenie wodą SEM. Dalsze wyposażenie SEM: Komputer do sterowania SEM otw TFT-monitorem OX200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Licencja na oprogramowanie Bruker EDX zostanie przekazana nowemu właścicielowi po zakupie! Beznitrogenowy system rentgenowskiej analizy energii rozproszonej w tym: Detektor SDD z rozdzielczością 127 eV lub lepszą Wykrywanie wszystkich pierwiastków od boru wzwyż Bezwibracyjny, bezobsługowy. Chłodzony Peltierem (bezazotowy) Procesor impulsowy TFT-monitor Pomiar spektrum i identyfikacja pierwiastków W pełni automatyczna, ilościowa analiza pierwiastków bez wzorca Akwizycja obrazu Superszybkie, jakościowe skanowanie liniowe Superszybki, jakościowy mapping pierwiastków System zarządzania i archiwizacji danych Tworzenie raportów i prezentacja wyników Komunikacja danych Instalacja i szkolenie HyperMap Analiza wielopunktowa Detektor Bruker xFlash (SDD) z jednostką przetwarzania sygnału SVE III Zakres dostawy: (patrz zdjęcia) Stan: używany (zmiany i błędy w danych technicznych zastrzeżone!)

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2020, Oś X: +/-100mm, zakres pomiarowy: 600x300x200mm, maksymalna waga obrabianego przedmiotu: 25kg, maszyna jest jak nowa, możliwa jest inspekcja na miejscu. Bsdpfx Afsruaaaepjwu

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 1998, Funkcjonalność: nieprzetestowany, Sterowanie CNC dla Wenzel Typ WPC2000 obejmujący szafę sterowniczą i skrzynkę ręczną Bwsdpfsv Irygsx Afpou

Stan: używany, Rok budowy: 2002, Funkcjonalność: w pełni sprawny, całkowita wysokość: 850 mm, całkowita szerokość: 1 000 mm, całkowita długość: 1 000 mm, masa całkowita: 1 000 kg, wysokość płyty: 160 mm, Płytka pomiarowa z twardych skał - Wymiary 1000x1000x160mm Bwjdpovki S Eefx Afpsu - Klasa jakości 1 lub 0 (wciąż mierzona) - z podstawą i szafką z rur stalowych - z konstrukcją dachu na zamówienie

Stan: dobry, jak nowy (używany), Funkcjonalność: w pełni sprawny, zakres pomiarowy oś X: 500 mm, zakres pomiarowy osi Y: 400 mm, zakres pomiarowy osi Z: 400 mm, okres gwarancji: 3 miesiące, rok ostatniego remontu: 2024, Generalnie wyremontowana manualna maszyna współrzędnościowa Mitutoyo Euro M544 (oryginalnie rok produkcji 1997) Retrofit 2024 z całkowicie nową elektroniką i oprogramowaniem, nowo zainstalowanym komputerem z Windows 10 Oś X: 500 mm Oś Y: 400 mm Oś Z: 400 mm Niepewność pomiaru długości według ISO 10360: E = [3,5 + 4,0L/1000] µm W zakresie temperatur 18 … 22 °C Bsdpfjk Arxtox Afpowu Materiał stołu pomiarowego: granit Otwory montażowe: M8 x 1,25 System odczytu: Mitutoyo - liniały liniowe Rozdzielczość 0,0005 mm Sterownik elektroniki DEVA001 (nowy) Prowadzenie osi pomiarowych: łożyska powietrzne Głowica obrotowa Renishaw MIH (używana) Sonda pomiarowa Renishaw TP20 (nowa) Oprogramowanie Inspect 3D (Mora Aschaffenburg) Inca Premium, wersja 2019 lub konfiguracja zgodnie z życzeniem bądź z nowymi komponentami/oprogramowaniem Opcjonalnie: - Renishaw MH20i € 3.500,-- - Inspect3D Inca Premium nowa licencja (od € 4.000,--) - Oprogramowanie Aberlink 3D (najprostszy interfejs użytkownika na rynku) € 2.500,-- - Instalacja, kalibracja, szkolenie W zestawie 3-miesięczna gwarancja (nie obejmuje kosztów dojazdu)

Stan: dobry (używany), Przyrząd do pomiaru konturów, profilograf, urządzenie do pomiaru chropowatości, pomiar chropowatości, pomiar okrągłości, głowica do pomiaru chropowatości - Producent: Hommel, głowica pomiarowa do urządzenia do pomiaru chropowatości - Głowica pomiarowa: Typ P2FE 30 / P2F E 100 - Pojedyncze komponenty: patrz zdjęcia - Wymiary skrzynki: 235/105/H30 mm Bwsdpfx Aok Hdr Tefpou - Waga: 0,4 kg

Stan: używany, Rok budowy: 2014, Maszyna pomiarowa Zeiss CMM Pro T2 advance 16/21, rok produkcji 2014, w bardzo dobrym stanie. • Numeryczny pulpit sterujący, standardowy Bjdpfx Ajw D R Nqsfpjwu • Wymiary płyty bazowej: Długość: 4.000 mm Szerokość: 2.000 mm Wysokość: 640 mm Całkowita wysokość urządzenia: ok. 4.500 mm • Zakres pomiarowy: Oś X: 3.200 mm Oś Y: 1.600 mm Oś Z: 2.100 mm • Dopuszczalna masa obrabianego elementu: ok. 5.000 kg Oprogramowanie: Zeiss Caligo BASIS CNC, Zeiss Caligo QS-STAT • Błąd długości pomiarowej wg ISO 10360-2: MPE-E = (27 + L/80) μm

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2021, godziny pracy: 20 h, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: SK02UXKP0365, zakres pomiarowy oś X: 550 mm, zakres pomiarowy osi Y: 600 mm, Aukcja Zeiss T-Scan Hawk z zaledwie 20 godzinami pracy! DANE TECHNICZNE Maksymalny zakres pomiarowy: 550 mm x 600 mm Bwsdex Sqfnepfx Afpeu Dokładność pomiaru: 0,02 mm + 0,035 mm/m SZCZEGÓŁY URZĄDZENIA Klasa lasera: Klasa 2M (bezpieczna dla oka) zgodnie z IEC 60825-1:2014 Godziny pracy: 20 WYPOSAŻENIE Notebook Oprogramowanie GOM Inspect

Stan: używany, Nikon Typ: VMZ-R3020 Zakresy pomiarowe XYZ: 300 x 200 x 200 mm *Typ TZ z obiektywem o małym powiększeniu: 250 x 200 x 200 mm Rozdzielczość wyświetlania: 0,01 μm Maksymalnie dopuszczalne odchylenie (MPE): EUX, MPE EUY, MPE 1,2 + 4L / 1000 μm EUXY, MPE 2,0 + 4L / 1000 μm EUZ, MPE 1,2 + 5L / 1000 μm Bodpfx Afoyiy Hbepswu Maksymalna masa próbki: 20 kg (gwarantowana dokładność: 5 kg) Kamera: Czarno-biała / kolorowa, 1/3" kamera CMOS Odległość robocza: Typ 1, 2 i 3: 50 mm Typ 4: 30 mm Typ TZ: (Duże powiększenie) 11 mm / (Małe powiększenie) 32 mm Typ A: 73,5 mm (63 mm z AutoFokusem laserowym) Powtarzalność autofokusa laserowego (zakres 1), 3)): 2σ ≦ 0,5 μm Oświetlenie: Typ 1, 2, 3 i 4: oświetlenie padające, przechodzące oraz 8-segmentowa pierścieniowa lampa z 3 kątami padania (biała dioda LED / Typ 4 tylko 1 kąt) Typ TZ: lewy obiektyw – episkopowe, ciemne pole; prawy obiektyw – padające, przechodzące, ciemne pole Typ A: oświetlenie padające, przechodzące oraz 8-segmentowa pierścieniowa lampa z 1 kątem padania (biała dioda LED) Zasilanie / pobór mocy: AC 100 V–240 V, 50/60 Hz / 4 A – 2 A Wymiary i waga: Podstawowa jednostka z stołem (szer. x gł. x wys.): 700 x 730 x 1793 mm / ok. 265 kg Sterownik: 190 x 450 x 450 mm / ok. 12 kg Powierzchnia montażowa (szer. x gł.): 2700 x 2400 mm Stan: używana Zakres dostawy: (patrz zdjęcie) (Zmiany oraz błędy w danych technicznych zastrzeżone!) Na dodatkowe pytania chętnie odpowiemy telefonicznie.

Stan: dobry (używany), Oferta 26013 Dane techniczne: - Długość ok. 1500 mm - Szerokość ok. 1000 mm - Grubość blatu górnego ok. 50 mm - Grubość płyty wraz z żebrowaniem ok. 200 mm - Wysokość stołu ok. 870 / 900 mm - Rama stołu Bwodpfoyi Ahnox Afpju - Całkowita waga ok. 550 kg

Stan: bardzo dobry (używany), Funkcjonalność: w pełni sprawny, całkowita szerokość: 1 000 mm, całkowita długość: 1 575 mm, wysokość stołu: 850 mm, wysokość płyty: 200 mm, Płyta z twardej skały, producent Thome - Wymiary: 1575 x 1000 x 200 mm - Klasa dokładności 00 (jeszcze w trakcie pomiaru) - Z aluminiową szafką dolną Bjdjynwq Uspfx Afpowu - Wysokość robocza ok. 85–90 cm - Lekkie ślady użytkowania

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok budowy: 2019, godziny pracy: 20 h, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: 65487, Wyposażenie: dokumentacja / instrukcja obsługi, Na sprzedaż oferujemy urządzenie Innomatec LTC-802 M do testowania szczelności, w stanie wizualnym jak nowe, pochodzące z naszego magazynu. Urządzenie zostało skalibrowane przez firmę Innomatec w 2026 roku i jest sprzedawane wraz z aktualnym certyfikatem kalibracji fabrycznej. Zgodnie z informacjami od producenta, obecnie nie występują żadne ograniczenia dotyczące serwisu lub dostępności części zamiennych. Producent: Innomatec Mess und Schnellanschluss Model: LTC - 802 M Rok produkcji: 2019 Stan: jak nowy Identyfikator kategorii: 404 Identyfikator typu: 2224 Typ: System pomiarowy Dane techniczne: Producent: Innomatec Model: LTC-802 M Rok produkcji: 2019 Metoda pomiaru przepływu masowego (Mass Flow) Zakres ciśnienia: od 0,05 do 5 bar Jednokanałowe urządzenie do testowania szczelności Konfigurowalny system testowy Nadaje się do elementów o dużej objętości Kalibracja fabryczna 2026 Zakres dostawy: Innomatec LTC-802 M Oryginalny zasilacz Akcesoria zgodnie ze zdjęciami Certyfikat kalibracji fabrycznej Dokumentacja obsługi (o ile jest przedstawiona na zdjęciach) Obszary zastosowania: Przemysł motoryzacyjny Technika medyczna Produkcja przemysłowa Kontrola jakości Bjdpozltyfofx Afpjwu Testowanie szczelności Automatyczne linie produkcyjne Stan: Stan wizualny jak nowy Skalibrowane przez firmę Innomatec (2026) Całkowicie wyczyszczone Gotowe do użycia Uwaga: Zdjęcia aktualnego certyfikatu kalibracji fabrycznej stanowią integralną część oferty i można je znaleźć w załączonych zdjęciach. Sprzedaż realizowana przez firmę, wystawiana faktura. Możliwość obejrzenia po wcześniejszym umówieniu terminu. W przypadku pytań lub potrzeby uzyskania dodatkowych informacji, prosimy o kontakt.

Stan: używany, Ilość: Dostępnych ponad 40 sztuk Producent: Indu-Sol Model: PNMA II PROFINET – urządzenie pomiarowe, wersja 3.0 (114090100) Montaż: Szyna DIN 35 mm Wymiary: 105 × 39 × 74 mm Waga: 310 g Napięcie wejściowe: 24 V DC (20–28 V, zabezpieczenie przed odwrotną polaryzacją) Napięcie wyjściowe: 24 V DC (maks. 1 A) Bodpfszlt Hxex Afpewu Pobór prądu: ok. 50 mA Straty mocy: ok. 1 W Stopień ochrony: IP20 Złącze: RJ45 Opóźnienie: < 1 bit/s przy 100 Mbit/s Długość kabla: do 100 m (Cat5/Cat5E) Temperatura pracy: od 0 °C do +70 °C Temperatura przechowywania: od –15 °C do +75 °C Wilgotność powietrza: 10–90 %, bez kondensacji

Stan: dobry (używany), Funkcjonalność: w pełni sprawny, całkowita szerokość: 500 mm, całkowita długość: 7 000 mm, wysokość płyty: 600 mm, Belka pomiarowa granitowa firmy Johannes Fischer Aschaffenburg Wymiary: 7000x500x600 mm Wyfrezowanie w górnej powierzchni roboczej Otwory na górnej stronie Klasa dokładności jest jeszcze sprawdzana (prawdopodobnie lepsza niż 0 wg DIN876) Bodpfx Afeym R U Ropewu Opcjonalna obróbka dostępna za dopłatą

Stan: używany, Shimadzu Typ: AG-X plus 20kN-50kN +750mm Wymiary: Szer. 1206 x Gł. 765 x Wys. 2920 mm Dane techniczne: Fmax: 50 kN Prędkość: 0.00005~1500 mm/min Dokładność: ±0,1 % JIS B7742 klasa 0.5, ASTM E2658 klasa A Odległość stołu od głowicy (mm) (skok rozciągający)*3: 215 do 1940 (20 kN: 0 do 1535 mm, 50 kN: 0 do 1475 mm) Maksymalna szerokość testowana: 600 mm Sztywność ramy: 180 kN/mm Waga: 710 kg 200 V 4,5kVA/15 A + Akcesoria zgodnie ze zdjęciem Stan: używany Bwsdpszimkfefx Afpou Zakres dostawy: (patrz zdjęcie) (Zmiany oraz pomyłki w danych technicznych zastrzeżone!) W razie dodatkowych pytań chętnie odpowiemy telefonicznie.

Stan: nowe, Częściowo rozpakowany do zdjęć – nieużywany artykuł z likwidacji magazynu Bwodpfx Ajzh Au Defpou Ilość: 6 dostępnych Głowica pomiarowa GT2-H32 Keyence

Stan: używany, Funkcjonalność: w pełni sprawny, całkowita szerokość: 1 500 mm, całkowita długość: 4 000 mm, masa całkowita: 10 000 kg, wysokość płyty: 455 mm, Płyta z twardej skały, producent Wenzel - Wymiary: 4000 x 1500 x 455 mm Bedpfxozfxrto Afpjwu - Klasa dokładności 0 (jeszcze do pomiaru) - W zestawie prowadzące rowki teowe z zaciskami - Z nóżkami podporowymi - Wysokość robocza ok. 75–85 cm - Typowe ślady użytkowania - Bez części leżących na stole

Stan: dobry (używany), Keyence Typ: VR-6200 + VR-6000 Dane techniczne: Mierzalny obszar XY: 300 mm × 150 mm *2 Stół przedmiotowy Przesuw w osi XY: 278 mm × 134 mm Bjdpozgr D Eefx Afpowu Przesuw w osi Z: 69 mm Nośność: 4,5 kg Odległość robocza: 75 mm Matryca obrazu: 4-megapikselowy CMOS, mono Tryb makro: Powiększenie (na podstawie monitora 15”): 12× Poziomo: 24,0 mm Pionowo: 18,0 mm Powiększenie (na podstawie monitora 15”): 25× Poziomo: 12,0 mm Pionowo: 9,0 mm Powiększenie (na podstawie monitora 15”): 38× Poziomo: 8,0 mm Pionowo: 6,0 mm Powiększenie (na podstawie monitora 15”): 50× Poziomo: 6,0 mm Pionowo: 4,5 mm Tryb mikro: Powiększenie (na podstawie monitora 15”): 40× Poziomo: 7,6 mm Pionowo: 5,7 mm Powiększenie (na podstawie monitora 15”): 80× Poziomo: 3,8 mm Pionowo: 2,9 mm Powiększenie (na podstawie monitora 15”): 120× Poziomo: 2,5 mm Pionowo: 1,9 mm Powiększenie (na podstawie monitora 15”): 160× Poziomo: 1,9 mm Pionowo: 1,4 mm Zoom: 1× do 4× Rozdzielczość wyświetlania: 0,1 μm Zakres pomiaru wysokości Bez składania obrazu w osi Z Tryb makro: 10 mm Tryb mikro: 1 mm Ze składaniem obrazu w osi Z Tryb makro: 50 mm Tryb mikro: 30 mm Powtarzalność (σ) Bez składania obrazu w osi Z 0,4 μm *1 Ze składaniem obrazu w osi Z 1,0 μm *1 Dokładność pomiaru Bez składania obrazu w osi Z ±2,5 μm *1 Ze składaniem obrazu w osi Z ±4,0 μm *1 Tylko 50 godzin pracy! Z oprogramowaniem na CD, bez komputera! Stan: (jak nowy!) Dalsze informacje techniczne dostępne u producenta. Zakres dostawy: (zgodnie ze zdjęciem!) (Zmiany i pomyłki w danych technicznych zastrzeżone!) W razie pytań zapraszamy do kontaktu telefonicznego.