Używane Vickers Instruments Binocular Microscope na sprzedaż (1 514)

Stan: nowe, VHX-600E, Mikroskop Cyfrowy Keyence - Nowość Model: VHX-600E Nsdpfxsq S Ti Eo Ad Sjwh Typ: VHX-600E Stan: nowy

Stan: bardzo dobry (używany), Na sprzedaż precyzyjny mikroskop narzędziowy renomowanej japońskiej firmy Mitutoyo, model TM-101 (Code No. 176-901). Urządzenie przeznaczone do kontroli wymiarów, kształtów, profili, powierzchni i konturów w narzędziowniach, laboratoriach pomiarowych i działach kontroli jakości. Producent: Mitutoyo Mfg. Co. Ltd. Japan Typ: TM-101 Odczyty cyfrowe Mitutoyo w osiach X i Y z funkcją ABS i INC, preset, data output Stół pomiarowy krzyżowy z obrotem i regulacją Funkcje oświetlenia Surface, Contour, Main Zasilanie AC 220V, 50–60 Hz, 8 VA Solidna, stabilna konstrukcja przemysłowa Stan bardzo dobry, kompletne urządzenie, sprawne technicznie, gotowe do pracy. Idealne do pomiaru narzędzi skrawających, frezów, wierteł, płytek, inspekcji elementów precyzyjnych oraz pomiarów konturów, gwintów i geometrii detali. Nodpfx Adjw R E Hio Sowh

Stan: nowe, Rok budowy: 2026, Funkcjonalność: w pełni sprawny, okres gwarancji: 12 miesiące, napięcie wejściowe: 230 V, zakres pomiarowy oś X: 200 mm, zakres pomiarowy osi Y: 85 mm, zakres pomiarowy osi Z: 50 mm, całkowita szerokość: 483 mm, całkowita długość: 598 mm, całkowita wysokość: 464 mm, masa całkowita: 64 kg, prąd wejściowy: 5 A, powtarzalność: 0,005 mm, częstotliwość wejściowa: 50 Hz, Wyposażenie: Oznakowanie CE, Port USB, Tabliczka znamionowa dostępna, dokumentacja / instrukcja obsługi, PG1000-400 – optyczny system do kontroli geometrii narzędzi obrotowych PG1000-400 to profesjonalny optyczny system pomiarowy i kontrolny do szybkiej inspekcji geometrii narzędzi tnących. Przeznaczony jest dla producentów narzędzi, firm zajmujących się ostrzeniem, szlifowaniem, narzędziowni, zakładów CNC oraz działów kontroli jakości i metrologii. Główne zastosowanie to kontrola narzędzi obrotowych po produkcji, szlifowaniu, ostrzeniu lub regeneracji. System nadaje się zarówno do narzędzi HSS, jak i monolitycznych z węglików spiekanych, w szczególności do wierteł, frezów trzpieniowych, wierteł stopniowych, rozwiertaków, gwintowników, narzędzi profilowych, mikro narzędzi oraz specjalnych narzędzi wykonywanych na zamówienie. Urządzenie może być również stosowane do kontroli płytek wieloostrzowych (VBD), wybranych geometrii gwintów, śrub/śrub z nakrętkami oraz innych precyzyjnych elementów, jeśli kontrolowana geometria jest optycznie dostępna dla kamery. Głównym przeznaczeniem systemu jest jednak kontrola geometrii narzędzi tnących. Nwsdszdz S Tjpfx Ad Soh Typowe zastosowania: - kontrola międzyoperacyjna bezpośrednio przy szlifierce lub na produkcji - kontrola wejściowa i wyjściowa narzędzi - kontrola po ostrzeniu / szlifowaniu - dokumentacja jakościowa i protokoły pomiarów - powtarzalna kontrola narzędzi produkowanych seryjnie PG1000-400 umożliwia kontrolę, m.in.: - kąta przyłożenia i kąta natarcia - kąta helisy - kąta wierzchołkowego wierteł - promieni i promieni narożnych - średnic i odległości - długości krawędzi tnącej - szerokości landu, marginesu, fazek - grubości rdzenia - profilu narzędzia - bicia - stanu i zużycia krawędzi tnącej - porównania geometrii z rysunkami DXF / DWG System działa optycznie i bezkontaktowo. Jest to korzystne przy kontroli ostrych krawędzi, precyzyjnej mikrogeometrii, narzędzi powlekanych i dokładnych krawędzi, gdzie kluczowa jest szybkość, powtarzalność i minimalizacja wpływu operatora. W skład systemu wchodzi oprogramowanie REACTION, specjalnie zaprojektowane do kontroli narzędzi tnących. Oferuje ono ponad 50 funkcji pomiarowych, detekcję krawędzi, przyciąganie punktów pomiarowych do krawędzi, zapisywanie scen kontroli, porównywanie z geometrią DXF / DWG, protokoły PDF z oceną PASS / FAIL oraz eksport danych do Excel/CSV. Parametry techniczne: - zalecana średnica narzędzia: 0,635–75 mm - długość pomiarowa narzędzia: ok. 190–200 mm - zakres powiększeń: 12,5× do 145× - kamera: 5 MP - monitor: 27" 4K Ultra HD - zakres pomiarowy: 85 mm pionowo × 200 mm poziomo - dokładność/powtarzalność: ±5 µm przy maksymalnym powiększeniu - wymiary urządzenia: ok. 598 × 483 × 464 mm - waga: ok. 64 kg Oferowana konfiguracja: - System inspekcji narzędzi tnących PG1000-400 - Enkodery M / F / A - Komputer z oprogramowaniem REACTION - Monitor 27" 4K Ultra HD - Elastyczne oświetlenie LED z dyfuzorem - Zakrzywiona magnetyczna płyta dyfuzyjna - Obrotowy blok bazowy do uchwytów mocujących - 1000-026-5"-ASS – zespół pryzmy 5" z wkładką, górnym dociskiem i ogranicznikiem - Podstawowe szkolenie operatora online O producencie: PG1000 powstał na bazie wieloletniego rozwoju systemów do kontroli narzędzi tnących. Pierwsza generacja PG1000 została wprowadzona w 1993 roku. System jest produkowany w USA przez firmę PG Inspection Technologies LLC, specjalizującą się w tej linii produktów. Od 1996 roku dostarczono ponad 1000 systemów PG1000. Stan i dostawa: - nowa maszyna - rok produkcji: 2026 - gwarancja: 12 miesięcy - lokalizacja: Czechy / UE - dostawa, pom

Stan: niesprawne części zamienne (używany), Vickers Nsdpfxozgbr Sj Ad Sjwh Typ: HVS 1000 Cyfrowy mikro-twardościomierz Vickers HVS 1000 charakteryzuje się unikalną i precyzyjną konstrukcją w zakresie mechaniki, optyki oraz źródła światła, umożliwiając uzyskanie wyraźniejszego obrazu odcisku, a tym samym dokładniejszy pomiar. Główne przeznaczenie i zakres zastosowania: 1. Żelazo i stal, metale nieżelazne, folie metalowe, stopy twarde, blachy, mikrostruktury 2. Warstwy nawęglane, azotowane i odgazowane, warstwy utwardzone powierzchniowo, powłoki, pokrycia 3. Szkło, płytki półprzewodnikowe, materiały ceramiczne Specyfikacja: Model: HVS1000 Typ: Cyfrowy mikro-twardościomierz Siły testowe (N): 0,098 / 0,246 / 0,49 / 0,98 / 1,96 / 2,94 / 4,90 / 9,80 Siły testowe (Kgf): 10 / 25 / 50 / 100 / 200 / 300 / 500 / 1000 Kontrola obciążenia: automatyczne nakładanie i zwalnianie obciążenia Wieżyczka obiektywu/penetratora: ręczna Czas przytrzymania (s): 0–60 Powiększenie mikroskopu: 400x do pomiaru (obiektyw 40x, okular 10x), 100x do obserwacji (obiektyw 10x, okular 10x) Rozdzielczość mikrometru (μm): 0,01 Zakres pomiaru twardości: 5 HV–3000 HV Wymiary stolika XY: 100 x 100 mm Zakres ruchu stolika XY: 25 x 25 mm Maks. wysokość próbki: 120 mm Maks. szerokość próbki: 110 mm Przeliczanie twardości: HK, HRA, HRB, HRC, HRD, HR15N, HR30N, HR45N, HR15T, HR30T, HR45T, HV, HBW Wyjście: wbudowana drukarka, interfejs RS232 Zasilanie: 220V, 60/50Hz Wymiary (mm): 441 x 270 x 480 Waga netto (kg): 35 Stan: używany Zakres dostawy: (patrz zdjęcie) (Zmiany i błędy w danych technicznych zastrzeżone!) W przypadku dalszych pytań chętnie udzielimy informacji telefonicznie.

Stan: niesprawdzony (używany), 1 partia przyrządów pomiarowych Prod.: Gossen, Typ: Metrawatt, Metratester 4, Profitest 204, Secutest S2 Nodpfx Ajzg D Txsd Sewh

Stan: bardzo dobry (używany), Typ: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 Skaningowy Mikroskop Elektronowy (PC-SEM) Nowoczesny, wysokorozdzielczy, cyfrowy skaningowy mikroskop elektronowy z nowo opracowaną optyką elektronową i intuicyjnym graficznym interfejsem użytkownika (GUI) w środowisku Microsoft Windows XP Professional. Wyposażenie obejmuje następujące cechy: Zakres powiększenia: 5 X - 300 000 X Napięcie przyspieszające: 0,3 - 30 kV Katoda włóknowa z wolframu (opcjonalnie katoda LaB6) Duży, w pełni zmotoryzowany stolik próbki z mimośrodowym pochylaniem, w tym graficzna nawigacja po uchwycie próbki Prosta nawigacja próbki dzięki funkcji Click-Center-Zoom Sterowanie polem widzenia przez dwóch nawigatorów Nawigacja koordynatów względnych Zapisywanie i powrót do pozycji próbki Regulowany wybór obszaru badania na stoliku Korekcja pola widzenia podczas obrotu przez sterowaną komputerowo mimośrodową rotację Korekcja pola widzenia podczas pochylania przez sterowaną komputerowo mimośrodową inklinację Obliczanie możliwego kąta pochylenia w zależności od geometrii próbki Automatyczna regulacja ostrości przy zmianie pozycji próbki w osi Z Inteligentne krańcówki bezpieczeństwa dla zmotoryzowanych osi Zakres ruchu stolika: x=125mm y=100mm z=5 do 80 mm (płynnie regulowane) T = -10°C do +90°C R= 360° (bez ograniczenia) Detektor elektronów wtórnych do pracy w wysokiej próżni Nowatorski, superstożkowy obiektyw gwarantuje najwyższą rozdzielczość obrazu nawet przy dużych kątach nachylenia Gwarantowana rozdzielczość obrazu SE: 3 nm przy 30 kV oraz 15 nm przy 1 kV Jednoczesne wyświetlanie obrazu na żywo z kilku detektorów Prosta nawigacja próbki dzięki Click-Center-Zoom Zaawansowane funkcje pomiaru obrazu Funkcja filmowania do rejestracji procesów dynamicznych Wszechstronna komora próbki z wieloma możliwymi rozbudowami: wolne kołnierze np. dla EDX, WDX, EBSD, katodoluminescencji itp. Niskoobsługowy, cichy system pomp: pompa przedwstępna, bezwibracyjna pompa dyfuzyjna wysokiej wydajności oraz elektromagnetyczne sterowanie zaworami Rozbudowane zabezpieczenia przed błędną obsługą i awarią mediów zewnętrznych Ergonomiczny stół systemowy z regulacją wysokości Zestaw startowy REM: 2 uchwyty do próbek, zestaw narzędzi oraz 6 zapasowych katod Wyposażenie dodatkowe SEM: Turbomolekularna pompa zamiast standardowej pompy dyfuzyjnej Podczas korzystania z turbomolekularnej pompy nie jest wymagane chłodzenie wodą SEM. Dalsze wyposażenie SEM: Komputer do sterowania SEM otw TFT-monitorem OX200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Licencja na oprogramowanie Bruker EDX zostanie przekazana nowemu właścicielowi po zakupie! Beznitrogenowy system rentgenowskiej analizy energii rozproszonej w tym: Detektor SDD z rozdzielczością 127 eV lub lepszą Wykrywanie wszystkich pierwiastków od boru wzwyż Bezwibracyjny, bezobsługowy. Chłodzony Peltierem (bezazotowy) Procesor impulsowy TFT-monitor Pomiar spektrum i identyfikacja pierwiastków W pełni automatyczna, ilościowa analiza pierwiastków bez wzorca Akwizycja obrazu Superszybkie, jakościowe skanowanie liniowe Superszybki, jakościowy mapping pierwiastków System zarządzania i archiwizacji danych Tworzenie raportów i prezentacja wyników Komunikacja danych Instalacja i szkolenie HyperMap Analiza wielopunktowa Detektor Bruker xFlash (SDD) z jednostką przetwarzania sygnału SVE III Nodpjzd Ufasfx Ad Sowh Zakres dostawy: (patrz zdjęcia) Stan: używany (zmiany i błędy w danych technicznych zastrzeżone!)

Stan: bardzo dobry (używany), TAMAR Typ: FEMET_WI_ID071_TAMAR Mikroskop świetlne PLMIS Mikroskop świetlne TAMAR ID071 służy do optycznej inspekcji próbek o maksymalnych wymiarach ok. 780x650 mm² (wielkość substratu) w czystym pomieszczeniu PLG. Wielkość substratu: pełna wielkość substratu (780x650 mm²). Obiektyw: Obiektyw skupia światło wychodzące z obserwowanego obiektu, tworząc rzeczywisty obraz dla użytkownika. Tryb jasnego pola (BF): światło doprowadzane jest z mikroskopu przez obiektyw na próbkę. Wysoka rozdzielczość, niski kontrast. Tryb ciemnego pola (DF): tryb oświetlenia zwiększający kontrast, wysoki kontrast dla krawędzi i cząstek. Zasada działania: Środek padającego strumienia światła jest zasłonięty, przez obiektyw przechodzi tylko światło obwodowe, które pada bocznie na próbkę. Krawędzie i cząstki pojawiają się jako jasne, gładkie tło jako ciemne. TAMAR Mikroskop świetlne ID071. Stół X-Y. Wersja oprogramowania 1.0. Stan: używany. Zakres dostawy: (autosampler zgodnie ze zdjęciem). (Zmiany i pomyłki w danych technicznych zastrzeżone!) Dodatkowe pytania chętnie odpowiemy telefonicznie. Nedpezd Sqmjfx Ad Sjwh

Stan: bardzo dobry (używany), Shimadzu Typ: Prestige-21 / z mikroskopem podczerwieni AIM-8800 Shimadzu IR Prestige-21 spektrofotometr FTIR Nsdpfx Adezdyyio Sjwh Urządzenie IRPrestige-21 zostało zaprojektowane zarówno do zastosowań o wysokiej czułości, jak i szerokiego zakresu w dziedzinach badań i rozwoju. Stanowi doskonałe uzupełnienie już istniejącej serii FTIR, która obejmuje między innymi standardowe obszary laboratoryjne. Specyfikacja AIM-8800 Optika: 15x obiektyw Cassegrain 15x zwierciadło kondensacyjne Cassegrain z otworem do płukania Detektor MCT: z systemem monitorowania ciekłego azotu Zakres długości fali: Typ 1 – 5000 – 720 cm⁻¹ Typ 2 – 5000 – 650 cm⁻¹ Elektrycznie aktywowany diafragma Napęd w osiach XY Θ. Kroki posuwu w osiach XY wynoszą 1 µm nad powierzchnią próbki oraz 1° w osi Θ (możliwy wybór numeryczny). Minimalna wartość nastawy: 3 µm Silnikowy stół próbkowy XY Zakres pozycjonowania: oś X: 70 mm, oś Y: 30 mm Rozdzielczość: 1 µm odstępu Grubość próbki: Tryb odbicia – ≤ 40 mm Tryb transmisji – ≤ 10 mm Obsługa przez klawiaturę urządzenia bazowego Wybór trybu pomiaru / obsługa stołu XY (regulacja prędkości w 4 krokach) / ręczne ustawianie ostrości / sterowanie oświetleniem (Opcyjnie) Sterowanie przez komputer PC Wybór trybu pomiaru / obsługa stołu XY / automatyczne centrowanie / ręczne ustawianie ostrości / automatyczne ustawianie ostrości / sterowanie oświetleniem / Ustawienie i podgląd przysłony / wybór pozycji pomiarowej oraz zapisywanie ustawień przysłony (10 pozycji próbki, 2 pozycji tła) Warunki pracy: Temperatura otoczenia: 15°C ~ 30°C Wilgotność powietrza: 70% lub mniej Wymiary zewnętrzne, waga: Szer. 410 mm x Głęb. 540 mm x Wys. 520 mm, 36 kg Stan: używany Zakres dostawy: (patrz zdjęcie) (Zastrzegamy prawo do zmian i pomyłek w danych technicznych, informacje mają charakter orientacyjny!) W przypadku dodatkowych pytań chętnie udzielimy informacji telefonicznie.

Stan: bardzo dobry (używany), ZEISS Typ: DSM 962 Zdigitalizowany skaningowy mikroskop elektronowy DSM 962 to urządzenie wyposażone w zintegrowaną pamięć obrazu 4 MB, wewnętrzny dysk twardy o pojemności 40 MB do przechowywania obrazów oraz napędy umożliwiające zewnętrzne zapisywanie danych i obrazów. Dzięki temu możliwe jest szybkie i łatwe uzyskiwanie informacji na temat składu i morfologii powierzchni preparatów aż do obszarów submikronowych. Zakres powiększenia od 5x do 300 000x umożliwia analizę zarówno struktur makroskopowych, jak i mikroskopowych. Dzięki specjalnym akcesoriom zakres zastosowań można znacznie rozszerzyć, umożliwiając na przykład analityczne badania mikroobszarów powierzchni. Obsługa urządzenia może odbywać się zarówno za pomocą konwencjonalnych elementów sterujących, jak i klawiatury lub myszy (opcja dodatkowa). Elektronika optyczna i sterowanie próżnią są obsługiwane w sposób konwencjonalny. Funkcjami pamięci obrazu steruje się za pomocą klawiatury lub myszy (opcja dodatkowa). Centralnie na panelu sterowania znajduje się oddzielny ekran informacyjny do wyświetlania menu. Niniejsza instrukcja obsługi ma służyć użytkownikowi jako przewodnik w celu uzyskania najlepszych możliwych rezultatów pracy z urządzeniem. Wyjaśnienia zostały sformułowane w sposób maksymalnie przystępny, aby także mniej doświadczonym użytkownikom zapewnić niezbędną wiedzę. Zakres powiększeń: od 20x do 300 000x przy odległości roboczej 7 mm Stopniowanie: 1-2-3-5-10 Minimalne powiększenie: 5x przy odległości roboczej 50 mm Rozdzielczość: 4 nm — gwarantowana z katodą wolframową przy 30 kV, odległość robocza 6 mm, preparat niepochylony 25 nm — gwarantowana z katodą wolframową przy 1 kV, odległość robocza 6 mm, preparat niepochylony Nwjdszdthyspfx Ad Ssh 3,5 nm — gwarantowana z optymalną katodą LaB6 przy 30 kV, odległość robocza 6 mm, preparat niepochylony Zakres dostawy: (DSM 962 z akcesoriami jak na zdjęciu) Stan: używany (Zmiany oraz błędy w danych technicznych i specyfikacjach są zastrzeżone!) Prosimy o zapytanie o możliwości transportowe przed zakupem. Wszelkie dodatkowe pytania chętnie wyjaśnimy telefonicznie.

Stan: dobry (używany), Oferujemy tutaj urządzenie do obsługi firmy ZASCHESitec. Urządzenie było używane przy produkcji tablic przyrządów. Składa się z następujących komponentów: KBK - FPM 10 - 7,0 x 5,0 Wózek jezdny - LWK 762 x 762 Nwodpfx Aezdim Hjd Ssh Moduł podnośnika - Z-L6 - 80/1280 - 1486 Chwytak - GP10 Udźwig: 10 kg Zakres dostawy: (urządzenie do obsługi ZASCHESitec, dokumentacja techniczna) Stan: używany Na dalsze pytania chętnie odpowiemy telefonicznie. Zamówienie pisemne możliwe przez e-mail lub fax.

Stan: gotowy do pracy (używany), Oś X: 300 mm, oś Y: 200 mm, oś Z: 200 mm, odległość robocza: 77 mm, maks. wysokość przedmiotu obrabianego: 200 mm, maks. masa przedmiotu obrabianego: 20 kg, długość: 730 mm, szerokość: 900 mm, wysokość: 950 mm, masa: 125 kg, optyczne odchylenie pomiaru długości (2D): 2,9 + L/100 µm (L w mm) przy 20°C ±1K, dotykowe odchylenie pomiaru długości (MM2/TP20): 4 + L/75 µm (L w mm), obiektyw optyczny: 1,5-krotny, powiększenie ekranowe: 47-80x, pole widzenia: 4,5x3,5 mm, kamera: 1,3 megapiksela CMOS z autofokusem. Wyposażenie: sterowanie CNC w 3 osiach za pomocą serwomotorów i joysticka, oprogramowanie pomiarowe IK 5000, komputer pomiarowy IK 5000 do pomiarów geometrii 2D i 3D, zintegrowany moduł CAD do danych DXF i IGES, automatyczna procedura dopasowania do porównywania konturów swobodnych, procedura skalowania, kontrola tolerancji według DIN ISO 1101, eksport danych do Microsoft Office lub baz danych/systemów SPC/QS przez interfejs ODBC, generator raportów dla zdefiniowanych przez użytkownika zadań pomiarowych, zapis wykonanych operacji jako makro pomiarowe. Możliwość obejrzenia urządzenia na miejscu. Nedpfx Adszc Rdws Sswh

Rok budowy: 2014, stan: nowe, Długość cyfrowy system pomiarowy zrobić HEIDENHAIN ID 355 533-04 Pomiarowe typ LF 481 - sygnał 1vp-p - pomiarowa długość pręta 200 mm Nwjdpfx Ajb T Uqisd Ssh

Stan: używany, Narzędzie przyrząd pomiarowy Zrobić Mitutoyo Typu szybki zestaw R Nedpfxsddtuye Ad Sjwh

Stan: bardzo dobry (używany), Mikroskopu Szkło powiększające Zrobić Hartmann Typu ACCU Lux powiększenie 20 razy w drewnianej kasecie z instrukcją obsługi Nwodpod Iacwjfx Ad Soh

Stan: gotowy do pracy (używany), Sensor Instruments L-LAS-TB-16x1-R-CL laserowy czujnik liniowy z prześwietleniem, 47/16 04078-R, używany, w dobrym stanie technicznym, w pełni sprawny, zakres dostawy zgodny ze zdjęciami. Njdpfxox Eugie Ad Sjwh

Stan: gotowy do pracy (używany), Sensor Instruments L-LAS-TB-16x1-T-CL czujnik laserowy typu prześwietlenie liniowe 04078-T, używany, w dobrym stanie, w pełni sprawny, zakres dostawy zgodny ze zdjęciami. Nodpfx Adjx Eug As Sowh

Stan: gotowy do pracy (używany), Sensor Instruments L-LAS-TB-16x1-R-CL laserowy czujnik liniowy typu prześwietlenie 29/16 03819-R, używany, w dobrym stanie zachowania, w pełni sprawny, zakres dostawy zgodnie ze zdjęciami. Nwjdpfx Adjx Eugco Soh

Stan: gotowy do pracy (używany), Sensor Instruments L-LAS-TB-16x1-R-CL laserowy czujnik liniowy, używany, w dobrym stanie technicznym, w 100% sprawny, zakres dostawy zgodnie ze zdjęciami. Nwjdpfx Aex Eugpjd Soh

Stan: gotowy do pracy (używany), Sensor Instruments L-LAS-TB-16x1-T-CL laserowy czujnik liniowy w układzie prześwietlającym 47/16 04077-T, używany, w dobrym stanie, w 100% sprawny, kompletność zgodna ze zdjęciami. Nedpox Eugvefx Ad Sewh

Stan: gotowy do pracy (używany), Sensor Instruments L-LAS-TB-16x1-T-CL laserowy czujnik liniowy typu prześwietleniowego 47/16 04079-T, używany, w dobrym stanie technicznym, w 100% sprawny, zakres dostawy zgodny ze zdjęciami. Nsdpfex Eug Nex Ad Sowh

Rok budowy: 2005, stan: używany, Funkcjonalność: nieprzetestowany, numer maszyny/pojazdu: X-1802, Używana kamera mikroskopowa Andor Ixon DV885JCS-VP w walizce Producent: Andor Technology Model: (Ixon) DV885JCS-VP Nwsdpfszgtnfox Ad Sjh W zestawie płyty CD z oprogramowaniem, zasilacz, kable połączeniowe oraz systemowe płyty PCB.

Stan: używany, Funkcjonalność: nieprzetestowany, numer maszyny/pojazdu: SX-50, Używany mikrosonda elektronowa Cameca SX-50 Nodpswnb D Tsfx Ad Sjwh W badaniu zastosowano mikrosondę elektronową Cameca SX-50 (Electron Probe MicroAlalyses). Posiada 6-calowy stolik, 3 spektrometry WDX z kilkoma kryształami LiF, PET, TAP, ODPb, PC1, PC2, PC3. Mikroanaliza sondą elektronową (EPMA) jest powszechnie uważana za technikę mikroanalityczną, która umożliwia obrazowanie lub analizę materiałów, których na co dzień nie możemy obserwować z rozdzielczością oferowaną przez techniki widzialne. System jest kompletny, posiada wszystkie książki, instrukcje serwisowe, oprogramowanie i komputer. Również wiele części. 1 x pompa próżniowa Leybold Trivac D16B 1 x Pompa próżniowa Alcatel 2012 A 2 x zintegrowane pompy turbo

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2025, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: 5B0S000433, Brak ceny minimalnej – gwarantowana sprzedaż dla najwyższej oferty! Cena nowego mikroskopu wynosiła około 100 000 €! Szczegółowe dane techniczne znajdują się w załączonej karcie katalogowej. DANE TECHNICZNE Maksymalne powiększenie: x1000 Kamera VHX-7100 Rozmiar sensora: 1/1,7 cala Typ sensora: 12,22 megapikselowy sensor CMOS Całkowita liczba pikseli (H × V): 4 168 × 3 062 Wirtualne piksele (H × V): 4 024 × 3 036 Tryb wysokiej prędkości (H × V): 2 048 × 1 536 Wysoka rozdzielczość, tryb 4K wyłączony (H × V): 2 880 × 2 160 Wysoka rozdzielczość, tryb 4K włączony (H × V): 4 000 × 3 000 Bardzo wysoka rozdzielczość (H × V): 12 000 × 9 000 Elektroniczna migawka: 1/30, 1/60, 1/120, 1/250, 1/500, 1/1 000, 1/2 000, 1/5 000, 1/9 000, 1/19 000 Migawka Supercharge: kroki co 0,01 s od 0,03 do 4 s Monitor LCD Rozmiar: 27-calowy kolorowy monitor LCD Rozmiar ekranu (H × V): 596,16 × 335,34 mm Rozstaw pikseli (H × V): 0,15525 × 0,15525 mm Liczba pikseli (H × V): 3 840 × 2 160 Wyświetlane kolory: ok. 1,07 miliarda Kąt widzenia: ±89° poziomo, ±89° pionowo Nwodpfjzb Eixjx Ad Soh Statyw VHX-S770E Zakres przesuwu stolika XY: ±50 mm Wielkość stolika XYθ (powierzchnia): 233 × 185 mm Maks. prędkość zmotoryzowanego stolika XY: 20 mm/s Zakres przesuwu stolika Z: 49 mm Nośność: 5 kg Waga: 25,3 kg DANE MASZYNY Złącze: Cyfrowe Wymiary i waga Wymiary bez wystających elementów (szer. × wys. × gł.): 635 × 450 × 132 mm Waga jednostki sterującej: 10,8 kg WYPOSAŻENIE – Jednostka mikroskopowa KEYENCE VHX-X1 – Konsola sterująca VHX-AX1D – Jednostka obliczeniowa OP-88885 – Jednostka kamerowa VHX-7100 – Obiektyw VH-Z00T – Obiektyw o wysokiej wydajności VH-Z100 – Zmotoryzowana głowica obrotowa – Zmotoryzowany precyzyjny statyw VHX-S770E – Duży zmotoryzowany stolik XY – Moduł oprogramowania VHX-H6M – Adapter oświetlenia pierścieniowego i doświetlenia OP-88164 – 3D pomiar profilu – Dokumentacja producenta – Oryginalne akcesoria

Stan: używany, DANE TECHNICZNE - Powiększenie: W 10 x 21 B Nwedpoug U Rmsfx Ad Sjh

Stan: używany, DANE TECHNICZNE Nwodpfx Adjug U Rte Soh - Powiększenia: 6,4-10-16-40 - Śr 10/23