System pomiarowyAlicona
InfiniteFocusXL200 G5
System pomiarowy
Alicona
InfiniteFocusXL200 G5
Rok produkcji
2017
Stan
Używane
Lokalizacja
Zuchwil 

Pokaż obrazy
Pokaż mapę
Dane dotyczące maszyny
- Opis/nazwa maszyny:
- System pomiarowy
- Producent:
- Alicona
- Model:
- InfiniteFocusXL200 G5
- Rok produkcji:
- 2017
- Stan:
- bardzo dobry (używany)
Cena i lokalizacja
- Lokalizacja:
- Niedermattstrasse 3a, 4528 Zuchwil, Schweiz

Zadzwoń
Szczegóły oferty
- Identyfikator ogłoszenia:
- A20696670
- Ostatnio aktualizowane:
- 06.12.2025
Opis
Alicona InfiniteFocusXL200 G5 System pomiarowy
Codpfex Dxw Tjx Ah Dohf
Objętość pozycjonowania: 200 mm × 200 mm × 200 mm
Maksymalna masa obrabianego elementu: 30 kg
Powiększenia obiektywu: 2.5x, 5x, 10xHX, 10x, 20xHX, 20x, 50x, 100x
Apertura numeryczna: 0.075–0.8
Odległość robocza: 4.5–37 mm
Zakres pomiaru lateralnego: od 5.63 mm do 0.16 mm
Rozdzielczość pionowa: od 2300 nm do 10 nm
Szum pomiarowy: od 800 nm do 1 nm
Zakres pomiaru pionowego: 8–36 mm
Prędkość pomiaru: do 1,7 mln punktów pomiarowych/s
Minimalna mierzona chropowatość Ra: od 7 µm do 0,03 µm
Minimalna mierzona chropowatość Sa: od 3,5 µm do 0,015 µm
Minimalna mierzona wysokość: od 2,3 µm do 0,01 µm
Maksymalna mierzona powierzchnia: do 40 000 mm²
Dokładność pomiaru płaskości: 0,1 µm (obiektyw 10x)
Nie udziela się gwarancji co do prawidłowości, kompletności oraz aktualności podanych informacji.
Ogłoszenie zostało przetłumaczone automatycznie. Błędy w tłumaczeniu są możliwe.
Codpfex Dxw Tjx Ah Dohf
Objętość pozycjonowania: 200 mm × 200 mm × 200 mm
Maksymalna masa obrabianego elementu: 30 kg
Powiększenia obiektywu: 2.5x, 5x, 10xHX, 10x, 20xHX, 20x, 50x, 100x
Apertura numeryczna: 0.075–0.8
Odległość robocza: 4.5–37 mm
Zakres pomiaru lateralnego: od 5.63 mm do 0.16 mm
Rozdzielczość pionowa: od 2300 nm do 10 nm
Szum pomiarowy: od 800 nm do 1 nm
Zakres pomiaru pionowego: 8–36 mm
Prędkość pomiaru: do 1,7 mln punktów pomiarowych/s
Minimalna mierzona chropowatość Ra: od 7 µm do 0,03 µm
Minimalna mierzona chropowatość Sa: od 3,5 µm do 0,015 µm
Minimalna mierzona wysokość: od 2,3 µm do 0,01 µm
Maksymalna mierzona powierzchnia: do 40 000 mm²
Dokładność pomiaru płaskości: 0,1 µm (obiektyw 10x)
Nie udziela się gwarancji co do prawidłowości, kompletności oraz aktualności podanych informacji.
Ogłoszenie zostało przetłumaczone automatycznie. Błędy w tłumaczeniu są możliwe.
Dostawca
Wskazówka: Zarejestruj się bezpłatnie lub zaloguj, aby uzyskać dostęp do wszystkich informacji.
Zarejestrowany od: 2018
Wyślij zapytanie
Telefon & Fax
+41 32 58... ogłoszenia
Twoje ogłoszenie zostało pomyślnie usunięte
Wystąpił błąd



































