Używane System Pomiarowy Ogniw Słonecznych na sprzedaż (40 761)

Stan: dobry (używany), ok. 4 sztuki h.a.l.m. System pomiarowy ogniw słonecznych, cetisPV-CTL1 cetisPV-XF2-C cetisPV-XF2-R cetisPV-XF2-P Kompletne urządzenie - używane -: Cena za jednostkę loco lokalizacja: €8,350 (netto) Bwjdpsukiu Nefx Aa Hon Kompletne urządzenie IV system pomiarowy Producent: H.A.L.M. Typ: cetisPV Składający się z: CTL1 cetisPV-XF2-C cetisPV-XF2-R cetisPV-XF2-P Kompletne urządzenie Rok produkcji: nieznany Stan: dobry Dostępne: natychmiast Lokalizacja: Magazyn Frankenberg / Saksonia

Stan: używany, WT-2000PV, µ-PCD, urządzenie pomiarowe Semilab do produkcji ogniw słonecznych Model: WT-2000PV Typ: µ-PCD Stan: używany Bwsdpfx Aepvkt Soa Hon

Stan: bardzo dobry (używany), Na sprzedaz profesjonalny system pomiarowy KEYENCE IM-7500 z glowica IM-7020. Urzadzenie przeznaczone do szybkiego i bardzo dokladnego pomiaru detali w produkcji oraz kontroli jakosci. Sprzet umożliwia automatyczny pomiar wielu wymiarow jednoczesnie przy uzyciu kamery. Idealny do warsztatow CNC narzedziowni oraz przemyslu. Dane techniczne Producent KEYENCE Model IM-7500 Glowica IM-7020 Bjdpfx Aasyvv Tro Hewn Typ optyczny system pomiarowy Kraj produkcji Japonia Pomiar automatyczny kamera Wysoka dokladnosc pomiaru Stan Uzywany Sprawny Normalne slady uzytkowania W zestawie Jednostka KEYENCE IM-7500 Glowica IM-7020 Monitor Jednostka sterujaca Klawiatura i mysz Okablowanie

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2024, TBM-D 2009006 – Positionsensorbox / Lagesensorbox V3 Producent: TBM SW-Entwicklung und Elektronik GmbH (Niemcy) Data produkcji: 02/2024 Zasilanie: 12 V DC, pobór mocy 70 W Stan: używane, bardzo dobry, sprawne Profesjonalna skrzynka pomiarowa / sterująca przeznaczona do zastosowań przemysłowych. Urządzenie służy do obsługi i przetwarzania sygnałów z czujników pozycjonowania / położenia w systemach testowych, automatyce oraz stanowiskach badawczo-rozwojowych. Wyposażenie i cechy: • wyświetlacz LCD do prezentacji parametrów • klawiatura numeryczna do konfiguracji i obsługi • interfejs komunikacyjny D-Sub • gniazda zasilania 12 V • solidna, obudowa aluminiowa Bwjdpfxoyc H R Tj Aa Hjn • oznaczenie CE • urządzenie po kontroli (naklejki kontrolne TBM)

Stan: bardzo dobry (używany), Na sprzedaż profesjonalny, cyfrowy wysokościomierz Mitutoyo (model 192-613) – japońska precyzja i niezawodność w jednym urządzeniu. Idealny do warsztatów, kontroli jakości oraz precyzyjnych pomiarów. Specyfikacja: • Zakres pomiarowy: 0–300 mm • Wyświetlacz LCD – czytelne odczyty nawet przy słabym świetle • Funkcje: ZERO/ABS, PRESET, HOLD • Zasilanie: bateria CR2032 • Stabilna podstawa zapewniająca pewne oparcie i precyzyjny pomiar Bwodpfow N Hn Sox Aa Hsn • Oryginał – Made in Japan Stan: Sprzęt w pełni sprawny, zadbany,

Stan: dobry (używany), Sprzedam miernik WTW PH96 w stanie dobrym. Bwodpjvdxu Nefx Aa Hon

Stan: bardzo dobry (używany), Urządzenie do pomiaru chropowatości HOMMEL WERKE LV-50E. Bwsdjvdybdspfx Aa Hen

Stan: bardzo dobry (używany), Sprzedam Miernik Grubości Lakieru SaluTron D2. Bwjdpfx Aasvbwy Ej Hsn

Stan: dobry (używany), Sprzedam Miernik siły nacisku HKM 5000N/500KG. Bodpfevbwyljx Aa Hswn

Stan: bardzo dobry (używany), Sprzedam Przyrząd pomiarowy, Carbidoor, HSAFS. Bwodpfxsvdx U Ne Aa Hon

Stan: bardzo dobry (używany), Sprzedam miernik WTW LF320, sprawny w stanie dobrym. Pomożemy w zorganizowaniu dla ciebie opłacalną firmę spedycyjną lub kuriera. Bwedpfx Asvdx Nyea Hsn

Stan: bardzo dobry (używany), Dzięki temu FAG Detector III jest wyjątkowo przydatny do wykrywania: • niewyważenia i błędów osiowania. • uszkodzeń łożysk tocznych. • uszkodzeń kół zębatych. Bwodjvb Id Ispfx Aa Hen

Stan: bardzo dobry (używany), Na sprzedaż profesjonalny miernik grubości powłok Fischer DUALSCOPE DMP40 przeznaczony do nieniszczącego pomiaru powłok metalicznych i niemetalicznych na różnych podłożach stal żelazo aluminium i inne metale nieżelazne • Stan bardzo dobry w pełni sprawny gotowy do pracy • Aktualne świadectwo wzorcowania PCA z dnia 05.11.2023 • Komplet w oryginalnej walizce z sondą przewodami płytkami wzorcowymi adapterem instrukcją i certyfikatem Specyfikacja i zalety • Automatyczne rozpoznawanie podłoża FE NFE i dobór właściwej metody pomiarowej • Szeroki zakres pomiarowy i wysoka precyzja pomiaru • Kolorowy wyświetlacz z intuicyjnym menu w języku polskim • Funkcje statystyki zapisu wyników i eksportu danych • Pomiar nieniszczący idealny do kontroli jakości produkcji i badań laboratoryjnych • Zgodność z normami ISO ASTM DIN • Solidna przemysłowa obudowa przystosowana do pracy w terenie i laboratorium W zestawie • Miernik Fischer DUALSCOPE DMP40 • Sonda pomiarowa • Przewody pomiarowe • Płytki wzorcowe • Adapter pomiarowy • Oryginalna walizka transportowa • Smycz Fischer • Instrukcja obsługi i certyfikat PCA Zastosowanie • Kontrola jakości powłok w przemyśle galwanicznym lakierniczym i motoryzacyjnym • Produkcja przemysłowa i laboratoria badawcze • Pomiary serwisowe i inspekcje techniczne Bwjdpsxlu Taefx Aa Hjn

Stan: używany, Rok budowy: 2016, Sterowanie programowe, akcesoria Bedpfx Aasza Aito Hswn +++ Uwaga: pozycja jest częścią aukcji online! +++

Stan: bardzo dobry (używany), Funkcjonalność: w pełni sprawny, zakres pomiarowy oś X: 25 mm, zakres pomiarowy osi Z: 1 mm, przesuw osi Z: 550 mm, Dobrze zachowane urządzenie do pomiaru chropowatości Mahr SD26 z jednostką wyświetlającą M400 i zintegrowaną drukarką Zakresy pomiarowe: Z = 0,8 mm Bwsdpfxezaf Ufo Aa Hon X = 25 mm Urządzenie zostało całkowicie odnowione (nowy czujnik i bateria) oraz sprawdzone. Na życzenie ze statywem (uchwyt wymaga dostosowania). Cena z dostawą na terenie UE.

Stan: dobry (używany), Rok budowy: 2015, numer maszyny/pojazdu: FS0B000351, rodzaj prądu wejściowego: Klimatyzacja, zakres pomiarowy osi Z: 3 000 mm, całkowita szerokość: 260 mm, całkowita długość: 310 mm, całkowita wysokość: 100 mm, masa całkowita: 5 kg, temperatura otoczenia (maks.): 40 °C, Wyposażenie: dokumentacja / instrukcja obsługi, Dane techniczne: Dokładność punktu 3D: ≤ 1,0 mm Objętość skanowania w pomieszczeniach: do 8 m³ Współczynnik ochrony IP: IP52 Zakres temperatury roboczej: 0–40°C Szczegóły stanu: Główny skaner i laser: nienaganny stan Tablet, płytka kalibracyjna i akcesoria: dobry stan z drobnymi zadrapaniami Pudełko transportowe: widoczne ślady zużycia, ale skutecznie chroni skaner Zawartość zestawu: Skaner Faro Freestyle-3D X Tablet Surface Pro 3 (Microsoft) Certyfikat kalibracji Karta microSD i pamięć USB Płytka kalibracyjna Bwsdpfjqxa Niox Aa Hen Zestaw czyszczący Wytrzymała walizka transportowa Skaner używany przez firmę. Zawsze przechowywany w pudełku po użyciu.

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok budowy: 2024, godziny pracy: 40 h, Funkcjonalność: w pełni sprawny, Wyposażenie: dokumentacja / instrukcja obsługi, Na sprzedaż w pełni wyposażony skaner 3D Keyence VL770 z dużym stołem obrotowym, oprogramowaniem do inżynierii odwrotnej oraz oprogramowaniem do pomiarów GD&T. W sprawie zapytań proszę dzwonić pod numer +36302632132. Bedpfx Ajzab Rvoa Hjwn

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2020, numer maszyny/pojazdu: 2299.001, Na sprzedaż oferowany jest wysokiej klasy modułowy tester produkcji masowej (MPT) firmy NTS Optel – profesjonalna instalacja do testowania i pomiarów, dedykowana zautomatyzowanej kontroli jakości optycznych komponentów, takich jak wafle, czujniki czy mikrooptyka. Maszyna została zaprojektowana z myślą o precyzyjnych testach masowych komponentów optycznych, gwarantując najwyższą dokładność pomiarową, niezawodność oraz elastyczność w zastosowaniach przemysłowych. Dzięki modułowej konstrukcji tester można idealnie dopasować do indywidualnych wymagań produkcyjnych lub rozwojowych. 🔍 Funkcje i wyposażenie • Zintegrowany moduł laserowy (940 nm, spolaryzowany kołowo) do precyzyjnego oświetlania optycznego • Wysokorozdzielcza kamera z automatyczną kalibracją i dużym polem widzenia • Robotyczny system obsługi wafli (EFEM) do automatycznego załadunku i rozładunku • Oprogramowanie analityczne do oceny sprawności, kontrastu, jednorodności i wydajności • Certyfikat CE, w tym blokady bezpieczeństwa oraz wykonanie kompatybilne z czystym pomieszczeniem • Intuicyjne sterowanie poprzez ekran dotykowy oraz zintegrowany system GUI • Opcje podłączeń: LAN, zasilanie i sprężone powietrze (6 bar) ⚙️ Zalety techniczne • Automatyczne rejestrowanie i analiza obrazów badanych próbek (DUT) • Obsługa dedykowanych modułów programistycznych (DLL) Bjdpfx Aajy R Dzgs Hjwn • Niska potrzeba konserwacji, solidna konstrukcja, wysoka niezawodność operacyjna • Opcjonalnie: sterowanie wysokością Z oraz stacja obracania wafli (wafer-flip) 💡 Zastosowania Idealny do badań, rozwoju, zapewnienia jakości oraz produkcji seryjnej w branżach: • Optoelektronika • Produkcja czujników • Technologia półprzewodników • Mikrosystemy

Stan: gotowy do pracy (używany), Rok budowy: 2001, Funkcjonalność: ograniczona funkcjonalność, Sprzedam system mikro-/nano-twardościomierza Fischerscope H100C XYp firmy Helmut Fischer (rok produkcji 2001). Urządzenie było ostatnio używane w laboratorium, obecnie jednak nie jest w pełni sprawne i jest sprzedawane wyraźnie jako uszkodzone / dla majsterkowiczów / na części zamienne. Znane problemy: - Ruch stołu nie działa prawidłowo (stół znajduje się pod głowicą pomiarową, a nie pod mikroskopem – obecnie nie jest możliwy precyzyjny pomiar). Prawdopodobnie problem elektroniczny. - Stół pomiarowy samoczynnie przesuwa się w lewo – możliwa usterka joysticka. Bsdpoyu Nabsfx Aa Hown - Zmiana penetratora nie działa prawidłowo (sonda nie dojeżdża całkowicie do ogranicznika). Urządzenie nadaje się szczególnie do: • Naprawy przez osoby z wiedzą elektroniczną • Pozyskiwania części zamiennych • Celów badawczych / dla majsterkowiczów Stan wizualny dobry jak na wiek.

Stan: używany, Rok budowy: 2016, zakres pomiarowy oś X: 300 mm, zakres pomiarowy osi Y: 250 mm, zakres pomiarowy osi Z: 150 mm, Współrzędnościowa maszyna pomiarowa, przeznaczona do szybkiej kontroli komponentów bezpośrednio na produkcji. Procedury pomiarowe mogą być wizualnie przedstawione krok po kroku nawet dla niewykwalifikowanych operatorów. Urządzenie zostało zakupione w 2016 roku, lecz używane było jedynie krótko, ponieważ nie nadawało się do planowanego zastosowania. Znajduje się w stanie niemal jak nowym, w oryginalnym opakowaniu. Producent: Keyence Model: XM-1000 Rok produkcji: 2016 Zakres pomiarowy: 300 x 250 x 150 mm Powtarzalność: ±3 µm Błąd pomiaru: ±8 µm Wyposażenie: - System pomiarowy XM-1000 - Komputer pomiarowy XM-1500 - Sonda pomiarowa XM-P1000 Bwjdpfxozbvqyo Aa Hon - Kilka głowic/punktów pomiarowych / kulek - Dokumentacja - Oryginalne opakowanie

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok budowy: 2023, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: 23-000209, rodzaj prądu wejściowego: Klimatyzacja, napięcie wejściowe: 230 V, zakres pomiarowy oś X: 500 mm, zakres pomiarowy osi Y: 500 mm, zakres pomiarowy osi Z: 500 mm, całkowita szerokość: 1 500 mm, całkowita długość: 1 600 mm, całkowita wysokość: 2 100 mm, waga przedmiotu obrabianego (maks.): 100 kg, przebieg osi X: 500 mm, przesuw osi Y: 500 mm, przesuw osi Z: 500 mm, maksymalna waga ładunku: 100 kg, moc silnika serwo: 1 000 W, obciążenie stołu: 100 kg, Wyposażenie: Tabliczka znamionowa dostępna, Oferujemy używaną Carl Zeiss GOM Metrology ATOS ScanBox 4105, rok produkcji 2023. Model: ATOS ScanBox 4105 Numer seryjny: 23-000209 Rok produkcji: 2023 Bodpfx Asy U R S Hoa Hjwn Napięcie zasilania: 230 VAC Częstotliwość: 50/60 Hz Fazy: 1 faza Moc: 1 kW Czujnik: GOM ATOS Capsule MV 200/P Robot: Fanuc LR Mate 200iD 7L Maks. rozmiar detalu: Ø 500 mm, wysokość 500 mm Maks. masa detalu: 100 kg Wymiary (D × S × W): 1.600 × 1.500 × 2.100 mm Wyprodukowano w Niemczech W przypadku pytań lub potrzeby uzyskania dodatkowych informacji, prosimy o kontakt mailowy lub telefoniczny.

Stan: używany, Rok budowy: 2005, Funkcjonalność: w pełni sprawny, numer maszyny/pojazdu: 3164, TESA Scan 50 plus – Optyczno-stykowa maszyna do pomiaru wałów Rok produkcji 2005 · Średnica 0,5 – 50 mm · Długość do 500 mm · Rozdzielczość 0,1 µm · Kompletny zestaw z komputerem Dell, monitorem, klawiaturą i myszką DANE TECHNICZNE • Producent: TESA (obecnie Hexagon Metrology) • Model: Scan 50 plus • Rok produkcji: 2005 • Metoda pomiarowa: kombinowana optyczna i stykowa (bezkontaktowa i stykowa) • Zakres pomiaru średnicy: 0,5 – 50 mm • Zakres pomiaru długości: 500 mm • Rozdzielczość średnicy: 0,1 µm • Rozdzielczość długości: 0,5 µm • Granica błędu średnicy (20 °C ±1 °C): 1 + D[mm] / 100 µm • Granica błędu długości (20 °C ±1 °C): 4 + L[mm] / 100 µm • Powtarzalność średnicy: 0,5 µm • Powtarzalność długości: 2 µm • Maks. wymiary detalu (D × L × m): 100 mm × 515 mm × 6 kg • Wymiary urządzenia: ok. 1,3 × 0,8 × 1,2 m • Masa urządzenia: ok. 180 kg • Nr pozycji: 3164 OPROGRAMOWANIE • Pro-Measure (licencjonowane) • Pro-Composer (licencjonowane) Bwedpey Eqlxsfx Aa Hen ZAKRES DOSTAWY • Przyrząd pomiarowy TESA Scan 50 plus • Komputer sterujący Dell • Monitor • Klawiatura • Mysz STAN & ATUTY Używane, w pełni sprawne urządzenie • Precyzyjna maszyna pomiarowa z bieżącej produkcji • W zestawie oprogramowanie Pro-Measure / Pro-Composer (licencjonowane) • Idealny do elementów toczonych, wałów, precyzyjnych trzpieni i detali o kształcie obrotowym • Kompletny zestaw z komputerem Dell, monitorem i urządzeniami wejściowymi – gotowy do natychmiastowego użycia PORÓWNANIE RYNKOWE Cena nowego urządzenia ok. 40.000 €. OPIS URZĄDZENIA TESA Scan 50 plus to wysokoprecyzyjne optyczno-stykowe urządzenie do pomiaru wałów i detali o kształcie obrotowym, takich jak wały, elementy toczone, precyzyjne trzpienie, sworznie i podobne części kontrolne. Urządzenie łączy bezkontaktowy pomiar optyczny z sondami stykowymi i osiąga rozdzielczość 0,1 µm dla średnic oraz 0,5 µm dla długości. TESA (Szwajcaria) obecnie należy do grupy Hexagon Metrology – światowego lidera w dziedzinie przemysłowej techniki pomiarowej. Scan 50 plus jest typowo używany w laboratoriach kontroli jakości, działach metrologii produkcji precyzyjnej oraz w badaniach i rozwoju. LOKALIZACJA & TRANSPORT Lokalizacja: Centralny magazyn Auktionshaus Köck, 6178 Unterperfuss, Austria. Odbiór osobisty lub wysyłka spedycyjna po uzgodnieniu. Koszty transportu na zapytanie. Wszelkie dane bez gwarancji. Urządzenie używane – sprzedaż wyłączona z jakiejkolwiek gwarancji. Zastrzega się możliwość pomyłek i błędów drukarskich.

Stan: nowe, Rok budowy: 2015, Funkcjonalność: w pełni sprawny, okres gwarancji: 12 miesiące, napięcie wejściowe: 230 V, zakres pomiarowy oś X: 57 mm, zakres pomiarowy osi Y: 41 mm, zakres pomiarowy osi Z: 30 mm, całkowita szerokość: 240 mm, całkowita długość: 330 mm, całkowita wysokość: 720 mm, HITEC – Technika pomiarowa QCM 570 Maszyna wystawowa, stan jak nowy Rok produkcji: 2015 (Cena katalogowa: 27.000,00) Bodjyvur Tepfx Aa Hown - Do bardzo precyzyjnych, powtarzalnych pomiarów skomplikowanych detali - Różne obiektywy telecentryczne - System kamer: USB 3.0 / 5 megapikseli - Automatyczne rozpoznawanie programów do elementów Oprogramowanie M3: - 23" ekran dotykowy - Elastyczna biblioteka sond, funkcje tolerancji i programowania - Wskaźnik optyczny Wynik Dobry/Zły z tendencją - Eksport do CAD Zakres pomiarowy / pole widzenia: 57 x 42 mm Błąd pomiaru długości: 4,5 µm + L/50 (L w mm) System kamer: USB 3.0 / 5 MP Oświetlenie powierzchniowe: 4-segmentowy pierścień LED Oświetlenie przechodzące: LED Regulacja wysokości: 30 mm System pomiarowy można obejrzeć w każdej chwili w lokalizacji Chemnitz.

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok budowy: 2021, Funkcjonalność: w pełni sprawny, Model: VR-5200 Typ: Głowica pomiarowa Źródła światła Źródło światła do obserwacji: Pierścień LED (czerwony, niebieski, zielony) Źródło światła do pomiaru: Biała dioda LED Jednostka sterująca: VR-5000 Zakres obserwacji i pomiarów Tryb makro Powiększenie (w odniesieniu do monitora 15 cali) 12×: Poziomo 24,0 mm Pionowo 18,0 mm Powiększenie (w odniesieniu do monitora 15 cali) 25×: Poziomo 12,0 mm Pionowo 9,0 mm Powiększenie (w odniesieniu do monitora 15 cali) 38×: Poziomo 8,0 mm Pionowo 6,0 mm Powiększenie (w odniesieniu do monitora 15 cali) 50×: Poziomo 6,0 mm Pionowo 4,5 mm Tryb mikro Powiększenie (w odniesieniu do monitora 15 cali) 40×: Poziomo 7,6 mm Pionowo 5,7 mm Powiększenie (w odniesieniu do monitora 15 cali) 80×: Poziomo 3,8 mm Pionowo 2,9 mm Powiększenie (w odniesieniu do monitora 15 cali) 120×: Poziomo 2,5 mm Pionowo 1,9 mm Powiększenie (w odniesieniu do monitora 15 cali) 160×: Poziomo 1,9 mm Pionowo 1,4 mm Zoom od 1× do 4× Pomiary wysokości Rozdzielczość pomiarowa 0,1 µm Zakres pomiaru wysokości Bez składania obrazu w osi Z Tryb makro: 10 mm Tryb mikro: 1 mm Ze składaniem obrazu w osi Z Tryb makro: 50 mm Tryb mikro: 30 mm Powtarzalność (σ) Bez składania obrazu w osi Z 0,4 µm Ze składaniem obrazu w osi Z 1,0 µm Dokładność pomiaru Bez składania obrazu w osi Z ±2,5 µm Ze składaniem obrazu w osi Z ±4,0 µm Pomiary szerokości Powtarzalność (σ) Tryb makro: 1 µm Tryb mikro: 0,5 µm Dokładność pomiaru Tryb makro: ±5 µm Tryb mikro: ±2 µm Składanie obrazu Pomiar całkowicie automatyczny (automatyczne sterowanie XY + automatyczny fokus Z), Automatyczne przyporządkowanie, automatyczne wyznaczanie zakresu Mierzalny zakres XY 206 x 104 mm Stolik pomiarowy Zakres przesuwu XY 184 × 88 mm (napędzany silnikiem) Zakres przesuwu Z 73 mm (napędzany silnikiem) Nośność 4,5 kg Odległość robocza 75 mm Matryca obrazu 4-megapikselowy CMOS, mono Obiektyw nadawczy Podwójnie telecentryczny obiektyw x 2 Obiektyw odbiorczy Podwójnie telecentryczny obiektyw Przetwarzanie danych Bedjyc Nmwopfx Aa Hjwn Specjalny komputer według specyfikacji KEYENCE (system operacyjny: Windows 11 Pro) Zasilanie Napięcie 100 do 240 V AC, 50/60 Hz Pobór mocy max. 200 VA Warunki środowiskowe Temperatura otoczenia 15 do 30°C Wilgotność względna powietrza 20 do 80% (bez kondensacji) Waga ok. 28 kg (waga samego modułu pomiarowego ok. 11 kg)

Stan: bardzo dobry (używany), Rok budowy: 2018, Model IM-7010 Rok modelowy 2018 Typ Głowica pomiarowa Model z transmisyjnym i refleksyjnym oświetleniem Czujnik obrazu Czarno-biały CMOS, 1”, 6,6 megapiksela Wyświetlacz Monitor LCD, 10,4” (XGA: 1024 × 768) Układ optyczny Podwójny obiektyw telecentryczny Pomiar wspomagany obrazem Zakres pomiarowy Tryb standardowy: 200 mm × 200 mm (4 × R50) Tryb precyzyjny: 125 mm × 125 mm Rozdzielczość wyświetlania: 0,1 µm Powtarzalność (bez przesuwu stołu pomiarowego) Tryb standardowy: ±1 µm Tryb precyzyjny: ±0,5 µm Z przesuwem stołu pomiarowego Tryb standardowy: ±2 µm Tryb precyzyjny: ±1,5 µm Dokładność pomiaru (±2σ) Bez przesuwu stołu pomiarowego Bwedpfx Aeyc N Egja Hon Tryb standardowy: ±5 µm*1 Tryb precyzyjny: ±2 µm*2 Z przesuwem stołu pomiarowego Tryb standardowy: ± (7 + 0,02 l) µm*3 Tryb precyzyjny: ± (4 + 0,02 l) µm*4 Zewnętrzne wejście zdalne Wejście beznapięciowe (zwierane i bezkontaktowe) Wyjście zewnętrzne OK/NOK/BŁĄD/POMIAR Wyjście Photo-MOS Nominalne obciążenie 24 V DC, 0,5 A Rezystancja w stanie włączenia maks. 50 mΩ Interfejsy LAN RJ-45 (10BASE-T/100BASE-TX/1000BASE-T) USB 3.1 4 porty (tył: 4) USB 2.0 Typ A 2 porty (przód: 2) Zapis danych Dysk twardy 500 GB Oświetlenie transmisyjne Telecentryczne oświetlenie transmisyjne (zielona dioda LED) Oświetlenie refleksyjne Oświetlenie pierścieniowe (cztery segmenty) Stół XY Zakres przesuwu 100 × 100 mm (napęd elektryczny) Maksymalne obciążenie stołu 5 kg Oś Z Zakres przesuwu 75 mm (napęd elektryczny) Zasilanie Napięcie zasilania 100–240 V AC, 50/60 Hz Pobór mocy maks. 430 VA Odporność środowiskowa Stopień zanieczyszczenia 2 Kategoria przepięcia II Temperatura otoczenia +10 do +35 °C Wilgotność względna 20 do 80% RH (bez kondensacji) Waga Około 30 kg