Procesowy spektrometr Bruker MATRIX-F

Bruker MATRIX-F

Stan: używany, Spectro Typ: SpectroMaxX LMD08 / LMX08 Data: 24.07.2020 Pełna analiza za pomocą stacjonarnego spektrometru iskrowego SpectroMaxX: Za pomocą spektrometru iskrowego można określić zawartość stopu i pierwiastków towarzyszących w makroskopowych próbkach stałych z wysoką precyzją do ppm. można określić z wysoką precyzją aż do zakresu ppm. Dostępne są różne metody analizy dla materiałów podstawowych: żelaza, aluminium, magnezu, miedzi, niklu, tytanu i ołowiu, dostępne są metody dostosowane do odpowiednich rodzin stopów. Zalety: Szybka analiza w ciągu kilku sekund Bardzo dokładna analiza spektralna, w tym C i N Kompaktowa konstrukcja (urządzenie stołowe) Obszary użytkowania / zastosowania: Badanie składu chemicznego 31 metali żelaznych i nieżelaznych Skład 31 metali żelaznych i nieżelaznych metale, azot i inne pierwiastki Opis systemu: Otwarty stojak iskrowy zapewniający wysoką przepustowość próbek Możliwa szeroka gama geometrii próbek Prosta zmiana podstawy Jako baza dostępne są następujące pierwiastki: Al, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, Pb Pierwiastki i poziomy stężeń, które można analizować, zależą od metod dostępnych dla danego pierwiastka podstawowego. Użyteczny zakres długości fali 170-670 nm Wyjście zmierzonych wartości w stężeniach lub intensywnościach Możliwość wyboru jednostek wyjściowych (%, ppm) Wyjście statystycznych wartości charakterystycznych (wartość średnia, RSD) SPECTROMAXx LMX08 Dane techniczne: Optyka CCD: Wielodetektory CCD o wysokiej rozdzielczości Ksdpfx Adsu S Ahqjrjdw Stabilizacja przed wahaniami temperatury Efektywny zakres długości fal: 140-670 nm, odpowiedni i skonfigurowany zakres długości fal Zakres długości fal zależy od wymagań aplikacji klienta. Zautomatyzowane profilowanie Moduły analityczne: Dowolnie wybierane moduły analityczne Zoptymalizowane pod kątem wymagań klienta Możliwość rozbudowy o dodatkowe moduły na miejscu Stojak iskrowy: Otwarty stojak iskrowy dla wysokich próbek Wydajność i różne geometrie próbek Zminimalizowane zużycie argonu dzięki modułowi oszczędzania argonu Zoptymalizowany przepływ argonu Skrócone interwały czyszczenia Płyta podstawy iskrowej może być łatwo wymieniona Konstrukcja pochłaniająca temperaturę bez chłodzenia wodą Zintegrowany system żaluzji zapewniający optymalny widok plazmy System wzbudzenia: W pełni cyfrowy generator plazmy z cyfrową definicją wyładowania, cyfrowe generowanie impulsów i cyfrowe sterowanie impulsami offline Mikrokontroler 32 MHz Maks. Czas trwania iskry: 4000 µs Maks. Moc iskry: 4 kW System wyświetlania: Oddzielny mikrokontroler dla każdego przetwornika CCD Szeregowy interfejs źródła Spektrometr: Zewnętrzny, najnowocześniejszy komputer System PC z systemem operacyjnym Windows Klawiatura i mysz Monitorowanie Oprogramowanie: Oprogramowanie Spark Analyzer Pro MAX do obsługi analitycznej i kalibracji Ciągła automatyczna diagnostyka sprzętu w tle Automatyczna weryfikacja i identyfikacja stopu/jakości Menedżer wyników Harmonogram konserwacji online Warunki otoczenia: Temperatura pokojowa: 10-30°C Warunki: (10-30°C) Wilgotność względna:

Stan: dobry, jak nowy (używany), Rok produkcji: 2024, Funkcjonalność: w pełni sprawny, Skaningowy mikroskop elektronowy Zeiss XB 350 Wyposażenie i akcesoria: • bez kolumny FIB Kdjdpfxow Rdvvj Adrow • oprogramowanie SmartSEM oraz SmartFIB • GIS z prekursorem Pt • zintegrowany plasma cleaner • EDX Oxford Xplore 30 (wraz z interfejsem i oprogramowaniem) • automatyczna śluza na próbki do 200 mm • przepust elektryczny (2 x 15 kanałów) • chłodziarka obiegowa • buforowy zbiornik próżniowy Quiet Mode • ... a także stół, monitor, konsole sterujące (własnościowa klawiatura Zeiss + joystick) oraz różne uchwyty na próbki Uruchomienie: sierpień 2024 Lokalizacja: Moguncja Dostępność: do uzgodnienia, dostępny w krótkim terminie. Urządzenie nadal eksploatowane – możliwość obejrzenia i demonstracji na miejscu. Urządzenie jest w pełni sprawne, nie posiada żadnych wad ani uszkodzeń. Dalsze informacje na zapytanie!

Stan: gotowy do pracy (używany), Skale: Rockwell/Rockwell-Superficial, maks. wysokość obrabianego elementu: ok. 180 mm, maks. głębokość badania: ok. 165 mm, czas przebywania: ok. 3 s, wyjście danych: Digimatic/RS-232-C, wymiary maszyny (X/Y/Z): ok. 250 mm/520 mm/780 mm, masa: ok. 50 kg. Dokumentacja dostępna. Możliwa inspekcja na miejscu. Kdodpexc Niwofx Adrow