Składnik

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Rok produkcji: 2025, Stan: nowe, System kontroli rentgenowskiej średnich paczek i toreb. Nadaje się do wykrywania ciał obcych wykonanych z metalu, szkła, kamienia, plastiku itp. w produktach spożywczych i niespożywczych. - Dane techniczne: Szerokość taśmy przenośnika: 410 mm; Dokładność wykrywania: Pb od Ø 0,2 mm, Fe od Ø 0,28 mm, SUS od Ø 0,28 mm, niemetaliczne jak kamień, szkło od Ø 1,2 mm; Moc promieniowania rentgenowskiego: 80 kVp, 1,25 mA; Rozdzielczość detektora: 0,4 mm; Emisja promieni rentgenowskich: < 1usv/h; Wysokość taśmy przenośnika: 850 ± 30 mm; Prędkość przenośnika taśmowego (zależna od produktu): 10 – 100 m/min; Interfejs użytkownika: 15-calowy ekran dotykowy; Oprogramowanie: intellisens®X-ray; Temperatura pracy: 5 – 35 °C; System wyrzutu: dostępny opcjonalnie, zgodnie z wymaganiami; Zasilanie: 220VAC, 50/60Hz; Wymiary systemu: D900xS920xW1825 mm; Waga: 350 kg. Csdpfev Nm Inox Adpopu Prosimy pamiętać, że nasze nowe ceny są często niższe od zwykle stosowanych cen. Po prostu zapytaj i powiedz nam, jakie zadanie związane z pakowaniem masz do wykonania. - Zazwyczaj w magazynie dostępnych jest od ręki 30-50 różnych nowych maszyn. Ponadto oferujemy bardzo krótkie terminy realizacji zamówień, wynoszące około 3 tygodni w przypadku maszyn wyprodukowanych według specyfikacji klienta. - Wszystkie maszyny dostępne są z pełną gwarancją.

Stan: niesprawne części zamienne (używany), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 Analizator fluorescencji rentgenowskiej – dawca części zamiennych / uszkodzony Opis artykułu: Na sprzedaż oferujemy używany analizator fluorescencji rentgenowskiej typu Oxford Instruments X-Strata 960. Urządzenie pochodzi z likwidacji laboratorium i jest oferowane wyłącznie jako dawca części zamiennych lub do celów naprawczych. Nie przeprowadzono testu sprawności – urządzenie uważa się za uszkodzone w rozumieniu sprzedaży. Dane techniczne – Oxford Instruments X-Strata 960 (bez gwarancji) Cecha Opis Model X-Strata 960 Producent Oxford Instruments Metoda analizy Analiza fluorescencji rentgenowskiej (XRF) Zakres zastosowań Pomiar grubości warstw, analiza materiałowa, badanie metali szlachetnych Geometria pomiaru Emisja promieniowania od góry lub od dołu, w zależności od konfiguracji Źródło promieniowania Lampa rentgenowska (np. anoda z rodu), moc 50–100 W Csdpfehaapfox Adpspu Detektor Licznik proporcjonalny lub detektor z dryftem krzemowym (SDD), w zależności od wersji Zakres pomiarowy Grubość warstw ok. 0,005 – 50 µm (w zależności od materiału) Wielkość plamki ok. 15 μm – 1 mm (zależnie od kolimatora) Oś Z Sterowana silnikiem, do ok. 230 mm wysokości pomiarowej Komora pomiarowa (szer. × gł. × wys.) ok. 580 × 510 × 230 mm Stół na próbki Manualny lub sterowany silnikiem (200 × 200 mm lub większy, w zależności od wyposażenia) System ogniskowania Optyczny / laserowy, częściowo automatyczny System operacyjny Zintegrowany przemysłowy PC z oprogramowaniem do analizy opartym na Windows Zasilanie 220–240 V / 50–60 Hz / ok. 500–800 W Waga urządzenia ok. 150–200 kg (w zależności od wersji) Stan: używany / uszkodzony / jako dawca części zamiennych Zakres dostawy: zgodnie ze zdjęciami – bez akcesoriów ani oprogramowania Ważne informacje: Sprzedaż wyraźnie jako urządzenie uszkodzone, bez gwarancji sprawności. Artykuł oferowany jako dawca części zamiennych lub dla majsterkowiczów. Brak gwarancji na działanie, kompletność lub parametry techniczne. Sprzedaż komercyjna z wyłączeniem odpowiedzialności za wady fizyczne, zgodnie z § 447 BGB (sprzedaż wysyłkowa). Zakres dostawy: Oxford Instruments X-Strata 960 Wszystkie elementy widoczne na zdjęciach Dodatkowe części, akcesoria lub dokumentacja nie są zawarte, o ile nie podano inaczej. Wysyłka & odbiór: Odbiór osobisty możliwy i preferowany w Borken Wysyłka po wcześniejszym uzgodnieniu możliwa. (Zastrzegamy sobie prawo do zmian i pomyłek w danych technicznych i informacjach!) Chętnie odpowiemy na dalsze pytania telefonicznie.

Rok produkcji: 2016, Stan: bardzo dobry (używany), Automatyczna kontrola rentgenowska Do kontroli połączeń lutowanych BGA, QFN, THT, LED, LGA i innych, widocznych lub ukrytych. Inne funkcje: W tym stacja offline i stacja naprawcza OS: Windows 7 Ultraszybkie detektory CCD ze skanowaniem liniowym Obszar inspekcji: 450 mm - 400 mm Akwizycja obrazu: 2D, 2,5D, 3D (obrazy warstwowe z planarną CT) Wymiary PCB: 60 - 450 x 50 - 400 mm Rozdzielczość AXI: 6 - 30 µm / px AOI: Pole widzenia kamery: 42 mm x 42 mm Cedowpuadspfx Adpjpu Rozdzielczość: 21 µm Wysokość inspekcji: -3 do 7,5 mm Optyka: telecentryczna Wysokość transportu: 950 mm +/- 25 mm Interfejs: SMEMA Regulacja szerokości: automatyczna

Stan: używany, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD Dyfraktometr rentgenowski (XRD) Wyciąg z raportu serwisowego: Urządzenie: PANalytical X’Pert PRO MPD Data wystawienia: 07.07.2021 Wykonane prace: - Ponowny montaż i uruchomienie systemu - Podłączenie zewnętrznych mediów zasilających - Faza rozgrzewania - Kompleksowa regulacja goniometru oraz innych komponentów - Przeprowadzenie konserwacji, w tym wymiana uszkodzonych części Użyte części zamienne: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATERIA, NI-CD WENTYLATOR DO JEDNOSTKI X-CELERATOR FILTR WODY Silnik PW3050 ("Urządzenie nie zostało przez nas przetestowane na miejscu") X’Pert PRO MPD to bardzo wszechstronny i wydajny dyfraktometr rentgenowski (XRD) do analizy strukturalnej materiałów krystalicznych. – idealny zarówno do czystych badań naukowych, jak i rutynowych zastosowań w przemyśle oraz na uczelniach. Dzięki modułowej konstrukcji, szybkiemu detektorowi, kontroli temperatury i atmosfery, świetnie sprawdza się zarówno w analizach rutynowych, jak i złożonych eksperymentach in-situ. Najważniejsze cechy: Różne geometrie pomiarowe: - Odbicie w trybie Bragg-Brentano (θ–2θ) - Geometria transmisyjna dla prób proszkowych w kapilarach - Opcjonalnie SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) do struktury nanomateriałów Źródło promieniowania i detektory: - Najczęściej anoda miedziana (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - Detektor X’Celerator (1D, bardzo szybki) do równoległego zbierania danych System modułowy z technologią PreFIX: - Szybka wymiana optyki i stolików próbek bez konieczności ponownej kalibracji Pomiary in-situ w wysokich temperaturach: - Możliwość pomiarów do ok. 1200°C - Kontrolowana atmosfera: powietrze, azot, tlen (ograniczenia dla atmosfery redukującej) Typowe zastosowania: - Analiza fazowa i ilościowa analiza Rietvelda - Określanie wielkości krystalitów, mikrodeformacji, naprężeń własnych - In-situ analiza przemian fazowych, utleniania, krystalizacji itp. - Pomiar SAXS do analizy nanoproszków, porowatości - Szerokie spektrum próbek: proszki, cienkie warstwy, ceramika, farmaceutyki, katalizatory itd. Dane techniczne (typowe) Cpedpfx Aowycatodpou Właściwość i specyfikacja Zakres kątowy (2θ) ok. 0,5° do 150° Minimalny krok: do 0,002° lub dokładniej Goniometr: pionowy, 0–0, promień ok. 240 mm Zakres temperatur: od temperatury pokojowej do ok. 1200 °C Atmosfera: powietrze, N₂, O₂ (ograniczone warunki redukujące) Detektory: X’Celerator (1D), licznik proporcjonalny Zastosowanie na świecie: X’Pert PRO MPD używany na całym świecie, np. w: - Uniwersytetach (ETH Zürich, TU Drezno, Uniwersytet Wiedeński) - Instytutach badawczych (np. instytuty Maxa Plancka, ICN2, IS2M) - Przemyśle (np. rozwój materiałów, farmaceutyka, chemia) Stan: używany Zakres dostawy: (patrz zdjęcie) (Zastrzegamy sobie prawo do zmian i błędów w danych technicznych!) Dodatkowe pytania chętnie wyjaśnimy telefonicznie.

Rok produkcji: 2016, Stan: gotowy do pracy (używany), Dostępny jest nowy system kontroli rentgenowskiej Anritsu. Moc promieniowania rentgenowskiego: 100 W, maks. szerokość wykrywania: 240 mm, maks. wysokość wykrywania: 120 mm, prędkość wykrywania od 2 kg do 5 kg: 10–60 m/min, prędkość wykrywania do 2 kg: 60–90 m/min, prędkość wykrywania od 5 kg do 10 kg: 10–40 m/min, materiał obudowy: stal nierdzewna, waga urządzenia: ok. 255 kg, czas pracy: mniej niż 50 godz. Maszyna nie wykazuje oznak zużycia taśmy przenośnika ani kurtyn przeciwradiacyjnych. Dostępna dokumentacja. Możliwa jest wizja na miejscu. Cpedpfx Adovzr Aujpsu