Profesjonalna CNC powierzchnia i kontur

Mahr MarSurf XP 20

Rok budowy: 2002, stan: używany, x-odległość 210 mm Odległość z 350 mm Maksymalne obciążenie 25 kg Odległość osi C/Z (mm) 270 mm Maks. średnica testu (mm) 300 mm Lrodpforxxc Hsx Alxou Oś obrotu C (stół obrotowy) 0° 90° 180° 270° Średnica stołu obrotowego 150 mm Ścieżka pomiarowa osi R 170 mm Wymagana przestrzeń ok. L2,0 x W0,8 x H0,82 m Zakres dostawy: - HOMMEL TESTER FORM 1004 - Stół roboczy - Stół obrotowy (oś obrotu C) - Cała dokumentacja - Oprogramowanie TURBO FORM 8.21 + licencje - Akcesoria (patrz zdjęcia) Stan: - Jak nowy - Funkcjonalny Konserwacja: - Ostatnia inspekcja w dniu 03/08/2021 - Dostępny raport z testu przeprowadzonego przez firmę Jenoptik

Stan: jak nowa (maszyna wystawiennicza), Rok budowy: 2024, godziny pracy: 15 h, Precyzyjny przyrząd do pomiaru profilu | Bardzo dobry stan | Gotowy do natychmiastowego użycia Na sprzedaż oferowany jest Chotest SJ-5760P – wysokoprecyzyjne urządzenie do pomiaru konturu, przeznaczone do analizy profilu geometrycznego w zarządzaniu jakością, narzędziowni, inżynierii mechanicznej oraz w zastosowaniach badawczych. Urządzenie zapewnia bardzo dokładne pomiary przy jednocześnie dużej swobodzie ruchu i stabilnej podstawie granitowej. ⸻ Stan • Używany, sprawdzony technicznie Ledpjx Db Stofx Alxjru • W pełni sprawny • Bardzo zadbany stan ⸻ Najważniejsze parametry techniczne – Chotest SJ-5760P Zakresy przesuwu • Oś X: 0–200 mm • Oś Z: 0–450 mm • Wymiary urządzenia: 800 × 450 × 1100 mm • Masa: 220 kg ⸻ Pomiar profilu (SJ-5760P) • Zakres pomiarowy Z1: ±25 mm • Rozdzielczość: 0,001 µm • Kierunek pomiaru: od góry/do dołu • Prędkość pomiaru: 0,05–5 mm/s • Prędkość pozycjonowania: X/Z do 20 mm/s • Siła pomiarowa: 10–150 mN, regulowana • Odchyłka prowadzenia: ≤1 µm / 200 mm Dokładność • Błąd wskazania X: ±(0,5 + 0,015L) µm • Błąd wskazania Z1: ±(0,5 + 0,05H) µm • Odległość: ±(0,8 + 0,02L) µm • Promień: ≤(1 + R/15) µm • Kąt: ≤±45’’ ⸻ Cechy szczególne urządzenia • Idealny do precyzyjnych pomiarów konturów i profili • Bardzo wysoka rozdzielczość pionowa (0,001 µm) • Bardzo stabilna granitowa podstawa zapewniająca pomiary o niskim poziomie wibracji • Duże zakresy robocze do różnorodnych geometrii detali • Przyjazna dla użytkownika i niezawodna technika pomiarowa • Nadaje się do pomiarów kształtu z dokładnością do mikrometra w laboratorium i produkcji