System pomiarowyASML
YieldStar S-200B
System pomiarowy
ASML
YieldStar S-200B
Rok produkcji
2011
Stan
Używane
Lokalizacja
Dresden 

Pokaż obrazy
Pokaż mapę
Dane dotyczące maszyny
- Opis/nazwa maszyny:
- System pomiarowy
- Producent:
- ASML
- Model:
- YieldStar S-200B
- Rok produkcji:
- 2011
- Stan:
- bardzo dobry (używany)
- sprawność:
- w pełni sprawny
Cena i lokalizacja
Sprzedaż maszyn

Czy już zamieściłeś ogłoszenie o swojej używanej maszynie?
Sprzedawaj przez Machineseeker bez prowizji.
Więcej o sprzedaży maszyn
Więcej o sprzedaży maszyn
Szczegóły oferty
- Identyfikator ogłoszenia:
- A19967480
- Numer referencyjny:
- DV10125
- Ostatnio aktualizowane:
- 10.09.2025
Opis
Optyczny system metrologii nakładkowej, zaawansowany system metrologiczny do litografii materiałów półprzewodnikowych, autonomiczny system metrologii nakładkowej do 300 mm wafli, YieldStar S 200B
Model: S200B
Typ: YieldStar
Rok produkcji: 2011
Dane techniczne:
Rozmiar wafla: 300 mm (12")
Źródło lasera: LPPS, chłodzenie wodne
Dodpfx Aoxbnt Esaceku
Opis ogólny:
YSS200B to optyczny system pomiarowy overlay, stosowany do szybkiego i bardzo precyzyjnego pomiaru odchyłek overlay na 300 mm wafelach – zazwyczaj używany do kontroli procesu produkcyjnego po wytrawianiu jako system samodzielny.
Ogłoszenie zostało przetłumaczone automatycznie. Błędy w tłumaczeniu są możliwe.
Model: S200B
Typ: YieldStar
Rok produkcji: 2011
Dane techniczne:
Rozmiar wafla: 300 mm (12")
Źródło lasera: LPPS, chłodzenie wodne
Dodpfx Aoxbnt Esaceku
Opis ogólny:
YSS200B to optyczny system pomiarowy overlay, stosowany do szybkiego i bardzo precyzyjnego pomiaru odchyłek overlay na 300 mm wafelach – zazwyczaj używany do kontroli procesu produkcyjnego po wytrawianiu jako system samodzielny.
Ogłoszenie zostało przetłumaczone automatycznie. Błędy w tłumaczeniu są możliwe.
DOKUMENTY
19967480-01.pdf (PDF)Dostawca
Wskazówka: Zarejestruj się bezpłatnie lub zaloguj, aby uzyskać dostęp do wszystkich informacji.
Zarejestrowany od: 2014
Telefon & Fax
+49 351 8... ogłoszenia
Twoje ogłoszenie zostało pomyślnie usunięte
Wystąpił błąd